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公开(公告)号：CN116322823A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202080106034.2
申请日：2020-10-14
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: A61M1/36
Abstract: 本发明的光线力学疗法装置从光源向被取出到患者的体外的在血液用管内流动的吸收了光反应剂血液照射光线，破坏血液中不希望的成分或对该成分施加影响。光线力学疗法装置具备：照射单元，具备光源，向血液用管内的血液照射光线；及回路冷却块，对血液用管内的血液进行冷却。回路冷却块通过使冷却水流动的水流路而与用于使冷却水在回路冷却块内循环的泵、储液罐及对水进行冷却的冷却部连接。
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公开(公告)号：CN109211741B
公开(公告)日：2022-06-17
申请号：CN201810708073.4
申请日：2018-07-02
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明的光学测定装置包含：主体基座、可移动地结合于所述主体基座的光学基座、固定于所述光学基座的测定光学系统、以及使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动的光学基座移动机构。所述光学基座移动机构使所述光学基座相对于所述主体基座在内部测定位置与外部测定位置之间进行相对移动。内部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座内的内部测定对象位置的位置。外部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座外的外部测定对象位置的位置。
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公开(公告)号：CN114509372A
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN202111360763.3
申请日：2021-11-17
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种光散射测定装置以及测定用夹具，能实施前向测定或者侧向测定和后向测定双方，且具有单个受光器，由此小型且低成本。一种光散射测定装置，具有：光源；单个受光器；试样保持部，具有试样池、框体以及光学元件，其中，该框体具有配置试样池的保持空间、形成为用于前向测定或者侧向测定中的至少任意一方的测定的第一光路的入射部的第一开口以及形成为用于后向测定的第二光路的入射部的第二开口，该光学元件具有与空腔的侧面成一定的角度的第一面；以及移动机构，使测定用夹具在铅垂方向移动。光学元件配置于第一光路或者第二光路的入射部或者出射部。第一光路和第二光路在铅垂方向分离。移动机构在进行前向测定或者侧向测定的情况下，使第一开口移动至第一光路的入射部的位置，在进行后向测定的情况下，使第二开口移动至第二光路的入射部的位置。
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公开(公告)号：CN107037437B
公开(公告)日：2022-01-18
申请号：CN201710058139.5
申请日：2017-01-23
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种能够准确地测量试样厚度的厚度测量装置及厚度测量方法。厚度测量装置具有：第一透光构件，其具有第一参照面；第二透光构件，其与第一透光构件相向设置，具有第二参照面；第一投光部，其经由第一参照面向设置在第一透光构件和第二透光构件之间的试样照射来自光源的光；第一受光部，其接收来自第一参照面的反射光，并且经由第一参照面接收来自试样的反射光；第二投光部，其经由第二参照面向试样照射来自光源的光；第二受光部，其接收来自第二参照面的反射光，并且经由第二参照面接收来自受光试样的反射光；分光部，其对由第一受光部接收的反射光和由第二受光部接收的反射光进行分光。
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公开(公告)号：CN113490519A
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN201980092947.0
申请日：2019-02-26
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: A61M1/36
Abstract: 在光动力治疗装置中对患者的血液高效地照射光。本公开的光动力治疗用装置(100)包括：盒(10)，包括卷芯和以环绕所述卷芯的周围的方式配置的管；壳体(50)，收纳所述盒(10)；及光源(60)，配置于所述壳体(50)内，并对所述管照射光，在所述卷芯的周围配置的所述管的与延伸方向正交的截面具有第一方向的第一尺寸和与该第一方向正交的第二方向的第二尺寸，所述第二尺寸比该第一尺寸小，并且所述第二方向朝向所述卷芯的外方。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109405752B
公开(公告)日：2021-08-27
申请号：CN201810568763.4
申请日：2018-06-05
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置，包括：照射光学系统，向测量对象直线状地照射具有规定的波长范围的测量光；测量光学系统，接受通过测量光的照射而从测量对象产生的作为透射光或反射光的直线状测量干涉光；及处理装置。测量光学系统包括：衍射光栅，将测量干涉光向与该测量干涉光的长尺寸方向正交的方向波长扩展；以及摄像部，接受由衍射光栅波长扩展了的测量干涉光并输出二维图像。处理装置包括：第一计算单元，与二维图像上的与被照射测量光的测量对象的各测量点对应的区域关联地，计算与从各测量点到测量光学系统的入射角对应的校正因数；及第二计算单元，对二维图像中包含的各像素值使用对应的校正因数，并在此基础上计算测量对象的光学特性。
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公开(公告)号：CN109163666B
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN201810568761.5
申请日：2018-06-05
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种使用了光学测量装置的光学测量方法，所述光学测量装置具备：照射光学系统，向测量对象直线状地照射具有规定的波长范围的测量光；以及测量光学系统，将通过测量光的照射而从测量对象产生的作为透射光或者反射光的直线状的测量干涉光向与该测量干涉光的长尺寸方向正交的方向进行波长扩展，并输出二维图像。光学测量方法包括：针对同一样品取得使入射角不同的情况的实测值分布的步骤；与二维图像上的与被照射测量光的测量对象的各测量点对应的区域关联地，计算与从各测量点到测量光学系统的入射角对应的校正因数的步骤；以及基于沿实测值分布的任一方向的一列或多列像素值集、和对应的校正因数，计算包含样品的折射率的光学特性的步骤。
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公开(公告)号：CN109752091A
公开(公告)日：2019-05-14
申请号：CN201811312188.8
申请日：2018-11-06
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种在使用对象物的拍摄图像来测定该对象物的光学特性的构成中，能得到更良好的测定结果的光学特性测定方法以及光学特性测定系统。光学特性测定方法是测定对象物的光学特性的光学特性测定方法，包括：使用与所述对象物离开规定距离地进行配置、能维持所述规定距离的同时使相对于所述对象物的位置变化的摄像装置，来获取作为包括所述对象物的图像的一个或者多个拍摄图像的步骤；以及基于所获取的所述拍摄图像，生成来源于位于下述位置的一个或者多个解析点的包括所述对象物的虚拟图像的步骤，其中该位置是包括所述摄像装置的移动轨迹的面以外的位置。
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