发明授权
- 专利标题: 结构光自适应多次曝光法
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申请号: CN201310338263.9申请日: 2013-08-05
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公开(公告)号: CN103411533B公开(公告)日: 2015-10-14
- 发明人: 孙大为 , 黄维 , 蔡艳 , 吴毅雄 , 陶立民 , 汪文忠
- 申请人: 上海交通大学 , 上海汇众汽车车桥系统有限公司
- 申请人地址: 上海市闵行区东川路800号
- 专利权人: 上海交通大学,上海汇众汽车车桥系统有限公司
- 当前专利权人: 上海交通大学,上海汇众汽车车桥系统有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区东川路800号
- 代理机构: 上海旭诚知识产权代理有限公司
- 代理商 丁惠敏; 郑立
- 主分类号: G01B11/00
- IPC分类号: G01B11/00
摘要:
一种三维测量领域的结构光自适应多次曝光拍摄法。利用已拍摄结构光条纹图像的质量参数来自动确定下一次拍摄的曝光时间,并判断拍摄何时结束。具体方法是计算结构光条纹图像上位置的质量参数值,用来判断这些位置是否达到理想的曝光质量,并确定下一次拍摄的曝光时间,通过条纹的低质量参数的像素比例判断拍摄是否结束,最后将不同曝光时间下的高质量参数的图像进行数据拼接。本发明可有效克服焊缝表面复杂状况对结构光条纹图像的干扰,获取清晰可靠且无局部数据缺失的结构光条纹图像,从而提高三维测量的精确度和稳定性。
公开/授权文献
- CN103411533A 结构光自适应多次曝光法 公开/授权日:2013-11-27