一种部分SOI超结高压功率半导体器件
摘要:
本发明涉及半导体技术,具体的说是涉及一种部分SOI超结高压功率半导体器件。本发明所述的一种部分SOI超结高压功率半导体器件,其特征在于,还包括多个N+岛和P型电场屏蔽层,所述多个N+岛均匀嵌入设置在P型衬底中,所述P型电场屏蔽层设置在P型衬底中,并且上表面与P型体区和靠近源端的N型缓冲区的下表面连接、下表面与埋氧层的上表面连接。本发明的有益效果为,通过改变电场分布,提高漂移区掺杂浓度,进而提高器件耐压和降低比导通电阻,减小器件面积,降低成本。本发明尤其适用于部分SOI超结高压功率半导体器件。
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