- 专利标题: 一种利用单频调制激光辐照技术测量球形颗粒光谱复折射率的方法
- 专利标题(英): Method for measuring spherical particle spectrum complex refractive index with single-frequency modulation laser irradiation technology
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申请号: CN201310467043.6申请日: 2013-10-09
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公开(公告)号: CN103471968A公开(公告)日: 2013-12-25
- 发明人: 齐宏 , 贺振宗 , 任亚涛 , 孙双成 , 阮立明 , 谈和平
- 申请人: 哈尔滨工业大学
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 代理机构: 哈尔滨市松花江专利商标事务所
- 代理商 岳泉清
- 主分类号: G01N15/00
- IPC分类号: G01N15/00
摘要:
一种利用单频调制激光辐照技术测量球形颗粒光谱复折射率的方法,属于颗粒光学特性测量技术领域。解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。通过建立球形颗粒系频域反射信号和频域透射信号测量的正问题和逆问题求解模型,采用粒度分析仪测量得到颗粒系的粒径分布情况,最后基于这些信号结合逆问题求解技术获得颗粒的光谱复折射率在已知颗粒其他物性参数的前提下,结合频域辐射传输模型,运用Mie理论结合微粒群优化算法反演获得球形颗粒光谱复折射率的方法。本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。
公开/授权文献
- CN103471968B 一种利用单频调制激光辐照技术测量球形颗粒光谱复折射率的方法 公开/授权日:2015-08-19