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公开(公告)号：CN110160964A
公开(公告)日：2019-08-23
申请号：CN201910441867.3
申请日：2019-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供基于Chirp调频激光辐照的半透明材料光热特性参数检测方法，属于光热物性测量技术领域。本发明首先使用基于Chirp调制激光的热波雷达成像技术对半透明材料中内含物位置进行锁定，设定内含物的物性参数；然后求解正问题计算模型得到边界真实的温度与辐射强度；采用SQP算法反演锁定的内含物位置，初步确定该内含物光热特性参数；最后通过SQP算法重复对整个计算场的光热特性参数进行重建，直到目标函数值达到指定的计算精度或者迭代步数达到最大值，最终得到材料最终的光热特性参数。本发明解决了现有半透明材料光热特性参数检测技术准确率不高的问题。本发明可用于半透明材料光热特性参数的精确检测。
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公开(公告)号：CN110151133A
公开(公告)日：2019-08-23
申请号：CN201910439080.3
申请日：2019-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供基于图像分割与时频信息融合的乳腺光学成像装置及方法，属于近红外光学层析成像技术领域。本发明所述方法首先获取调频激光与脉冲激光作用下待测乳腺组织边界各方向上的辐射强度信息，通过模拟调频激光作用下待测乳腺组织内的红外辐射传输过程，初步得到频域模型下光学参数分布的重建图像；然后利用阈值分割法将其分割，得到时域模型的目标区域的光学参数分布初值，通过模拟脉冲激光作用下的红外辐射传输过程，得到乳腺组织目标区域内部结构。本发明解决了现有对乳腺光学分布的同时重建过程中，利用单一模型的测量信号进行重建，存在重建精度较低或者重建效率低的问题。本发明能用于高效率高精度的乳腺探测光学参数场的重建。
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公开(公告)号：CN110132875A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201910447569.5
申请日：2019-05-27
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于多源脉冲激光信息融合的弥散介质多宗量场重建装置及方法，属于光学成像技术领域，为解决现有技术对弥散介质多宗量场同时重建的研究中，大多采用单一的脉冲激光入射的探测及重建方法，这种方法存在探测得到的信息较少、重建得到的图像边缘较为模糊，不能较好地反映真实的情况的问题。包括激光控制器、激光头、1×4光开关、光电探测器、数据采集处理系统和1×16光开关；所述光电探测器的输入端与1×16光开关的输出端连接，所述光电探测器的输出端与数据采集处理系统的输入端连接，所述激光控制器的输出端同时与激光头的输入端和数据采集处理系统的输入端连接，所述激光头的输出端与1×4光开关的输入端连接。本发明能有效解决现有技术中存在的问题。
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公开(公告)号：CN105203494B
公开(公告)日：2018-04-24
申请号：CN201510607276.0
申请日：2015-09-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/3563
Abstract: 高温半透明材料折射率及吸收系数反演测量装置及方法，属于高温半透明材料热物性测量技术领域。本发明是为了解决现有半透明材料高温热辐射物性的测量方法复杂并且测量结果不可靠的问题。装置包括傅立叶红外光谱分析仪、数据处理系统、黑体光源B、旋转平台、黑体辐射加热器、黑体光源A、真空罐和循环水恒温套筒；方法首先通过实验测得指定实验温度下待测半透明材料指定方向上的光谱方向表观发射率，在此基础上通过逆问题求解方法计算得到该材料的光谱折射率和光谱吸收系数，利用该方法可以精确地计算出待测材料的光谱折射率和光谱吸收系数。本发明用于高温半透明材料的热物性测量。
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公开(公告)号：CN105203437B
公开(公告)日：2017-11-17
申请号：CN201510603970.5
申请日：2015-09-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 基于前向散射多角度测量的球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布的同时重构方法，属于球形颗粒的物性参数测量技术领域。本发明是为了解决现有常规的测量球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布方法中，不能同时获得二者的测量结果，并且测量结果不准确的问题。它在测量过程中使用两种不同波长的连续激光照射球形粒子系样本表面，借助探测器测量粒子系不同角度内的透射信号，最后通过逆问题求解技术间接得到粒子系的光学常数以及粒径分布情况；它通过建立球形颗粒系不同角度内透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，在粒子系的其他参数已知的前提下，提出光学常数与颗粒系粒径分布的同时重建技术。本发明用于球形颗粒光学常数与粒径分布的同时重构。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106644852A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201610907548.3
申请日：2016-10-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01N15/0211 , G01N15/00
Abstract: 基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法，本发明涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明利用脉冲激光照射颗粒系统样品表面，通过改变试件的厚度以及入射激光的波长，然后测量不同角度的时域透射及反射信号，然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明通过建立测量颗粒系统光学常数与颗粒系粒径分布的正、逆问题模型，在已知介质其他物性参数的前提下而提出。本发明适用于同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量场合。
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公开(公告)号：CN106023082A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610348998.3
申请日：2016-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法，属于红外光学成像领域。目前缺少通过微透镜阵列测量光场信号的技术方法。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置，数据采集处理系统(7)连接激光控制器(1)和三个微透镜阵列光场相机；激光控制器(1)连接激光头(2)，激光头(2)和三个微透镜阵列光场相机围成的区域中心设置弥散介质(3)。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建方法，包括介质边界出射辐射测量、近红外脉冲激光在弥散介质的传输计算、光学参数场重建环节。本发明实现对弥散介质光学参数场的重建，为近红外光学成像和红外探测技术提供新的技术手段。
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公开(公告)号：CN103487356B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201310467042.1
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于短脉冲激光透反射信号的球形颗粒光谱复折射率测量方法，属于颗粒光学特性测量技术领域，解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本发明所述方法利用短脉冲激光辐照均匀球形颗粒系，测量颗粒系的反射信号和透射信号，用粒度分析仪测量颗粒系的粒径分布情况，运用Mie理论模型结微粒群优化算法反演得到颗粒的光谱复折射率，本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。
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公开(公告)号：CN103091252B
公开(公告)日：2014-12-03
申请号：CN201310047855.5
申请日：2013-02-06
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于红外测温仪的材料发射率测量方法，属于高温不透明材料热物性测量技术领域；本发明是为了解决现有材料发射率测量方法的测量结果精确度差、使用复杂和测量速度慢的问题；本发明首先使用红外测温仪对黑体炉的温度进行测量，并通过计算得到红外测温仪接收的杂散辐射能，然后使用热电偶测温仪对待测材料所制成的试件表面温度进行测量，得到了试件表面的真实温度；本发明设计实现了在五种设定红外测温仪发射率条件下使用测量试件表面温度，得到五个测量温度值，利用五个设定发射率和五个测量温度值代入计算公式得到五个材料发射率，并取其平均值获得待测材料发射率，本发明主要应用在高温不透明材料发射率测量技术领域。
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公开(公告)号：CN103487356A
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：CN201310467042.1
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于短脉冲激光透反射信号的球形颗粒光谱复折射率测量方法，属于颗粒光学特性测量技术领域，解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本发明所述方法利用短脉冲激光辐照均匀球形颗粒系，测量颗粒系的反射信号和透射信号，用粒度分析仪测量颗粒系的粒径分布情况，运用Mie理论模型结微粒群优化算法反演得到颗粒的光谱复折射率，本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。
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