发明授权
- 专利标题： 光强分布的测量方法
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申请号： CN201210192083.X申请日： 2012-06-12
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公开(公告)号： CN103487139B公开(公告)日： 2015-07-29
- 发明人: 朱钧 , 朱景雷 , 姜开利 , 冯辰 , 魏继卿 , 金国藩 , 范守善
- 申请人： 清华大学 , 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室
- 专利权人： 清华大学,鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
- 当前专利权人： 清华大学,鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室
- 主分类号： G01J1/04
- IPC分类号： G01J1/04
摘要：
一种光强分布的测量方法，包括以下步骤：提供一设置于基底一表面的碳纳米管阵列，并将该设置于基底的碳纳米管阵列放置于一惰性环境或真空环境中，所述碳纳米管阵列具有一远离基底的第一表面；用一待测光源照射所述碳纳米管阵列的第一表面，使该碳纳米管阵列辐射出可见光；提供一反射镜，使该碳纳米管阵列所辐射的可见光经该反射镜反射；以及利用一成像元件对反射镜所反射的可见光成像，并读出待测光源的光强分布。
公开/授权文献
- CN103487139A 光强分布的测量方法 公开/授权日：2014-01-01
