- 专利标题: 用于形成半导体基板用钝化膜的材料、半导体基板用钝化膜及其制造方法、以及太阳能电池元件及其制造方法
- 专利标题(英): Material for forming passivation film for semiconductor substrates, passivation film for semiconductor substrates, method for producing passivation film for semiconductor substrates, solar cell element, and method for manufacturing solar cell element
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申请号: CN201280021239.6申请日: 2012-05-18
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公开(公告)号: CN103503121A公开(公告)日: 2014-01-08
- 发明人: 织田明博 , 吉田诚人 , 野尻刚 , 町井洋一 , 岩室光则 , 足立修一郎 , 佐藤铁也 , 田中彻
- 申请人: 日立化成株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 日立化成株式会社
- 当前专利权人: 日立化成株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 蒋亭
- 优先权: 2011-118494 2011.05.26 JP; 2011-118493 2011.05.26 JP; 2011-141068 2011.06.24 JP; 2012-055809 2012.03.13 JP
- 国际申请: PCT/JP2012/062856 2012.05.18
- 国际公布: WO2012/161135 JA 2012.11.29
- 进入国家日期: 2013-10-31
- 主分类号: H01L21/312
- IPC分类号: H01L21/312 ; C08K3/00 ; C08L25/18 ; C08L27/12 ; C08L71/10 ; C08L101/02 ; H01L31/04
摘要:
本发明提供一种用于形成半导体基板用钝化膜的材料,其包含具有阴离子性基团或阳离子性基团的高分子化合物。
公开/授权文献
- CN103503121B 用于形成半导体基板用钝化膜的材料、半导体基板用钝化膜及其制造方法、以及太阳能电池元件及其制造方法 公开/授权日:2017-04-12
IPC分类: