- 专利标题: 用于痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的痕量探测仪
- 专利标题(英): Sample injection device for trace detector and trace detector with sample injection device
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申请号: CN201310687895.6申请日: 2010-12-31
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公开(公告)号: CN103698386A公开(公告)日: 2014-04-02
- 发明人: 李元景 , 陈志强 , 张清军 , 毛绍基 , 赵自然 , 刘以农 , 曹士娉 , 郑严 , 常建平 , 邹湘
- 申请人: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
- 申请人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 张启程
- 分案原申请号: 2010106199326 2010.12.31
- 主分类号: G01N27/62
- IPC分类号: G01N27/62
摘要:
本发明提供了一种用于痕量探测仪的进样装置,该包括:设置在进样装置中的用于使样品从进样件脱附的进样室;以及用于在进样时使进样室与痕量探测仪的迁移管流体连通的阀门组件。本发明通过采用上述结构,例如,可以通过提高样品的透过率,增加检测装置的灵敏度。同时实现了迁移管内部环境与外界环境隔离,避免迁移区被污染,能够保持仪器的灵敏度、物质峰峰位、分辨率等重要参数不变,从而实现仪器的稳定、一致性。
公开/授权文献
- CN103698386B 用于痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的痕量探测仪 公开/授权日:2016-03-09