- 专利标题: 支持批量读取校验的I2C多路复用器及控制方法
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申请号: CN201310711424.4申请日: 2013-12-20
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公开(公告)号: CN103714036B公开(公告)日: 2016-07-20
- 发明人: 彭骞 , 陈凯 , 郑增强 , 沈亚飞 , 邓标华 , 欧昌东 , 唐奇林
- 申请人: 武汉精立电子技术有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷街3号世界城光谷步行街1栋C单元2层039号
- 专利权人: 武汉精立电子技术有限公司
- 当前专利权人: 武汉精立电子技术有限公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷街3号世界城光谷步行街1栋C单元2层039号
- 代理机构: 武汉开元知识产权代理有限公司
- 代理商 潘杰
- 主分类号: G06F13/42
- IPC分类号: G06F13/42 ; G06F13/38
摘要:
本发明公开了一种支持批量读取校验的I2C多路复用器用于外部I2C主设备与多个外部I2C从设备的通信。本发明包括采样去抖模块、状态控制模块、内部I2C储存模块、通道控制模块和校验模块。本发明还公开了应用这种I2C多路复用器的控制方法,支持写入数据的批量读取校验、双向的SCL传输和可控通道广播方式的数据转发。本发明对协议完全支持,提高设备的兼容性,有一定的抗干扰能力,且具备较高的集成度;批量读取校验功能的导入,减少了读取校验的时间,从而提高了设备的通讯效率。
公开/授权文献
- CN103714036A 支持批量读取校验的I2C多路复用器及控制方法 公开/授权日:2014-04-09