-
公开(公告)号：CN118936852A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202411151833.8
申请日：2024-08-21
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本申请属于NED设备测试领域，具体公开了一种NED设备测试装置及方法，NED设备包括：NED显示屏和NED光学系统，NED光学系统设置在NED显示屏后侧，测试装置包括：光学镜头和光谱扫描单元；所述光学镜头的光阑前置，其设置在所述NED光学系统后侧，用于将所述NED设备的显示图像成像至所述光学镜头的像平面上；光谱扫描单元设置在所述光学镜头后侧，用于在所述像面上进行光谱扫描，获取所述显示图像的光谱数据。通过本申请，采用光阑前置的NED测试镜头搭配线扫光谱仪，可以实现对NED设备虚像整个视场内的亮色度与光谱测量，相比于现有的成像式亮色度计和旋转点式亮色度计，能够提供更高的测量精度，保证了测量结果的准确性。
-
公开(公告)号：CN118918801A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202410944228.X
申请日：2024-07-15
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉加特林光学仪器有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本申请属于缺陷检测技术领域，具体公开了一种Micro LED显示器缺陷检测方法及装置，其中方法包括：获取待测Micro LED显示器目标区域内包含疑似缺陷的感兴趣区域的区域信息，感兴趣区域的区域信息基于初检设备对目标区域拍摄的第一图像确定，包括感兴趣区域在目标区域内的位置信息和感兴趣区域的大小，初检设备为对待测Micro LED显示器的亮度和/或色度进行检测的设备；基于感兴趣区域的区域信息，确定感兴趣区域的高光谱数据；将感兴趣区域的高光谱数据发送至上位机进行目标区域的缺陷检测。本申请中上位机接收到的高光谱数据量大大减少，提高检测效率的同时降低了处理高光谱数据的硬件要求。
-
公开(公告)号：CN118688219A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410891455.0
申请日：2024-07-04
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉加特林光学仪器有限公司
摘要： 本发明公开了一种曲面光学元件瑕疵检测装置，包括：检测装置、成像镜头和补偿镜组；检测装置、成像镜头与补偿镜组，以及待测曲面光学元件依次排列；补偿镜组，用于将待测曲面光学元件的待测面成像至中间像面；中间像面是平面；成像镜头用于将待测面在中间像面所成的像，成像至检测装置。本发明通过补偿镜组产生反向场曲，补偿曲面光学元件待测面的弯曲，使得检测装置可以一次性对曲面光学元件的表面成像，可以有效提高检测效率。
-
公开(公告)号：CN114441040B
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202210086977.4
申请日：2022-01-25
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种色度测量装置及测量方法。该测量装置包括微反射镜模块、图像采集模块和控制模块，所述图像采集模块包括多个图像采集单元，每个图像采集单元包括滤光元件和传感器，所述控制模块控制所述微反射镜模块具有多种镜面偏转角度，使得测量目标发射的光线入射到所述微反射镜模块时具有多种不同的反射路线，在每个反射路线上设置有一个图像采集单元，反射光线经过滤光元件后进入传感器。本发明具有测量时间短、结构简单的优点。
-
公开(公告)号：CN114783310B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202210415381.4
申请日：2022-04-18
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉加特林光学仪器有限公司
IPC分类号： G09F9/33
摘要： 本发明公开了一种用于立方体三色合光棱镜与微显示屏贴合的贴合机构、方法和系统，包括获取单元，用于获取微显示屏的贴合端；位置调整单元，用于通过获取单元调整所述微显示屏的贴合端相对于所述立方体三色合光棱镜的贴合面的位置；间距控制单元，用于控制微显示屏的贴合端与立方体三色合光棱镜的贴合面两者之间的间距；所述间距控制单元包括至少三个不共线的连接于微显示屏的贴合端的端面上的隔离球，每个隔离球位于微显示屏的贴合端的发光区域的外侧。本发明不仅整体结构紧凑，而且可以保证贴合工序后微显示屏的贴合端和立方体三色合光棱镜的贴合面两者之间的间距和平行度满足预设的目标值，降低了对位置调整单元的移动精度要求。
-
公开(公告)号：CN116777910B
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN202311045382.5
申请日：2023-08-18
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明提供一种显示屏子像素亮度提取精度评估方法、系统及电子设备，属于显示屏检测领域，方法包括以下步骤：确定MTF测试图案；MTF测试图案包括多个颜色的二维MTF测试图案；获取待测显示屏显示所述MTF测试图案的拍摄图像；基于拍摄图像提取至少一个原色的子像素亮度图，和/或基于所提取的原色子像素亮度图得到多个颜色的子像素亮度图，以根据子像素亮度图评估子像素亮度提取精度。本发明提供的评估方法通过将MTF测试图案设计成彩色，并提取对应原色的子像素亮度图和/或彩色子像素亮度图可以实现对子像素亮度提取精度的快速准确评估，对于Demura和AOI设备实现更好的修复。
-
公开(公告)号：CN116878660A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202311104938.3
申请日：2023-08-30
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉加特林光学仪器有限公司
摘要： 本发明公开了一种色度测量装置及方法，包括：视角测量镜头、分光镜、滤镜、图像传感器、光谱仪和计算模块；其中，图像传感器设置在视角测量镜头的像平面处，用于测量待测物体在多个视角下的第一测量光；滤镜设置在第一测量光的光路上；光谱仪用于在视角测量镜头的像平面处，接收待测物体在多个视角下的第二测量光；分光镜用于分离第一测量光和第二测量光；计算模块用于获取光谱仪和图像传感器的测量结果，利用光谱仪的测量结果标定图像传感器的测量结果。本发明在传统的色度测量装置基础上，集成了光谱测量功能，可以对测量结果直接进行标定。
-
公开(公告)号：CN114694525B
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202210321816.9
申请日：2022-03-25
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉加特林光学仪器有限公司
IPC分类号： G09F9/33
摘要： 本发明公开了一种微显示器贴合系统及方法，涉及微显示器领域，其包括：相机对位单元，其正对立方体三色合光棱镜的出光面；贴合单元，用于获取微显示器，并将微显示器的贴合端移动到与立方体三色合光棱镜的贴合面对应的位置；间距检测单元，用于检测微显示器的贴合端与立方体三色合光棱镜的贴合面之间的间距；旋转单元，用于旋转立方体三色合光棱镜使得其不同贴合面分时对应于贴合单元；相机对位单元与旋转单元连接，并相对于立方体三色合光棱镜位置固定。本发明可以生产基于Micro LED技术的三色微显示器，并可以控制Micro LED屏幕与立方体三色合光棱镜在贴合过程中的相对距离，以解决Micro LED屏幕在精对位时容易受损的问题。
-
公开(公告)号：CN111382785B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202010141915.X
申请日：2020-03-04
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号： G06V10/764 , G06V10/772 , G06V10/82 , G06N3/0455 , G06N3/0464 , G06N3/088
摘要： 本发明属于面板自动光学检测技术领域，公开了一种GAN网络模型及实现样本自动清洗、辅助标记的方法，提供的GAN网络模型包括依次连接的通过训练获得的生成器网络和判别器网络，生成器网络能根据输入样本图片得到重构样本图片以及残差图，判别器网络能够根据重构样本图片获得输入样本图片的异常评分。利用GAN网络模型，针对分类样本输出异常评分，针对检测样本或分割样本，根据残差图输出异常区域轮廓列表，实现样本的自动清洗；针对负样本，根据残差图输出异常区域边界框列表或异常区域轮廓列表，对负样本进行辅助标记。本发明解决了现有技术中人工标记面板样本的成本较高、容易出现漏标或误标、处理时间较长的问题。
-
公开(公告)号：CN116007530A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202211630877.X
申请日：2022-12-19
申请人： 武汉加特林光学仪器有限公司 , 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号： G01B11/24
摘要： 本发明公开了一种同轴光谱共焦成像系统，包括光源模块、色散镜头模组、光谱成像侧狭缝装置和光谱仪；光源模块提供宽光谱的光束并将其通过光源侧狭缝装置入射到色散镜头模组；色散镜头模组将入射的光依次透过其第一色散镜头模组、分光器件和第二色散镜头模组后射到待测物表面，还将经待测物表面反射的光依次透过其第二色散镜头模组、经分光器件的反射和透过第三镜头模组后会聚到光谱成像侧狭缝装置；光谱仪对会聚到光谱成像侧狭缝装置的不同波长的光进行成像。本发明通过入射和反射光路共轴共用一个第二色散镜头模组的方式克服了现有技术在测量较陡峭凹坑或孔洞时的遮挡问题，实现了对表面更深尺寸凹坑的测量。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
290 条记录 (耗时 0.058 秒)
