发明公开
CN103715275A 立体电路零件、立体电路零件的制造方法及物理量测量装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 立体电路零件、立体电路零件的制造方法及物理量测量装置
- 专利标题(英): Three-dimensional circuit component, method of making the same, and physical-quantity measuring instrument
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申请号: CN201310297060.X申请日: 2013-07-16
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公开(公告)号: CN103715275A公开(公告)日: 2014-04-09
- 发明人: 山岸信贵 , 山下直树 , 今井敦
- 申请人: 长野计器株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 长野计器株式会社
- 当前专利权人: 长野计器株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 朱美红; 杨楷
- 优先权: 2012-158497 2012.07.17 JP
- 主分类号: H01L31/02
- IPC分类号: H01L31/02 ; H01L31/18 ; G01D21/00
摘要:
本发明涉及一种立体电路零件、立体电路零件的制造方法及物理量测量装置。在合成树脂制的块体(61)上设置电子零件(60),沿着块体(61)的三维形状形成多个与该电子零件(60)实现电气连接的导电性图案(64),在导电性图案(64)的端部上设置软钎料设置区域(64B1),在该软钎料设置区域(64B1)与电子零件(60)的对置面(60A)之间设置软钎料(65),使导电性图案(64)的除了软钎料设置区域(64B1)和设置电子零件(60)的区域以外的区域内置在块体(61)中,形成立体电路零件。因而,通过除了配置电子零件(60)的区域以外的导电性图案(64)的区域内置在块体(61)中,导电性图案(64)不再向外部露出需要以上。
公开/授权文献
- CN103715275B 立体电路零件、立体电路零件的制造方法及物理量测量装置 公开/授权日:2017-05-24
IPC分类: