发明公开
- 专利标题: 质量测量装置
- 专利标题(英): Mass measurement device
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申请号: CN201280045411.1申请日: 2012-09-18
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公开(公告)号: CN103814279A公开(公告)日: 2014-05-21
- 发明人: 中谷诚 , 铃木亮民 , 小西聪
- 申请人: 株式会社石田
- 申请人地址: 日本京都府
- 专利权人: 株式会社石田
- 当前专利权人: 株式会社石田
- 当前专利权人地址: 日本京都府
- 代理机构: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
- 代理商 鹿屹; 李雪春
- 优先权: 2011-204357 2011.09.20 JP; 2012-039107 2012.02.24 JP; 2012-048945 2012.03.06 JP; 2012-061899 2012.03.19 JP; 2012-084461 2012.04.03 JP
- 国际申请: PCT/JP2012/073856 2012.09.18
- 国际公布: WO2013/042667 JA 2013.03.28
- 进入国家日期: 2014-03-18
- 主分类号: G01G9/00
- IPC分类号: G01G9/00 ; B25J19/02
摘要:
本发明提供即使在物品移动过程中也可以测量所述物品的质量的质量测量装置。质量测量装置(100)包括机械手(23)、机械臂(11)、力传感器(21)、加速度传感器(22)和控制部(40)。机械手(23)保持物品(Q)。机械臂(11)使机械手(23)移动。力传感器(21)设置在机械手(23)和机械臂(11)之间,测量作用于移动时的物品(Q)的力。加速度传感器(22)测量作用于移动时的物品(Q)的加速度。控制部(40)控制机械手(23)和机械臂(11)运转,并根据作用于移动时的物品(Q)的力和加速度计算物品(Q)的质量。
公开/授权文献
- CN103814279B 质量测量装置 公开/授权日:2016-06-29