发明公开
- 专利标题: 密封面缺陷三维检测方法
- 专利标题(英): Three-dimensional detection method for defects of sealing surface
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申请号: CN201410106796.9申请日: 2014-03-21
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公开(公告)号: CN103868929A公开(公告)日: 2014-06-18
- 发明人: 陈嘉杰 , 张涛 , 蒋良中 , 刘青松 , 余冰 , 钱建华 , 李腾龙 , 孙绮林 , 李晓 , 袁任重
- 申请人: 中科华核电技术研究院有限公司 , 中国广核集团有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市福田区上步中路西深圳科技大厦15层(1502-1504、1506)
- 专利权人: 中科华核电技术研究院有限公司,中国广核集团有限公司
- 当前专利权人: 中广核研究院有限公司,中国广核集团有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市福田区上步中路西深圳科技大厦15层(1502-1504、1506)
- 代理机构: 广州三环专利代理有限公司
- 代理商 张艳美; 向霞
- 主分类号: G01N21/88
- IPC分类号: G01N21/88 ; G01B11/22 ; G01B11/02
摘要:
本发明公开了一种密封面缺陷三维检测方法,包括:获取密封面上带划痕的图片;根据带划痕的图片获取划痕的长度和初始宽度;根据初始宽度确定扫描路径;根据扫描路径规划扫描轨迹;沿扫描轨迹对划痕进行扫描以确定划痕的深度及最终宽度。与现有技术相比,本发明的密封面缺陷三维检测方法先获取密封面上所有带划痕的图片,从而基本上杜绝了细微划痕的漏检情况;之后根据该图片获取划痕长度及初始宽度,再根据初始宽度确定扫描路径,继而根据扫描路径规划扫描轨迹,最后沿扫描轨迹对划痕进行扫描以确定划痕的深度及最终宽度,从而实现了对密封面缺陷的三维检测,同时提高了测量精度,且实现了对密封面三维缺陷的尺寸量化检测。
公开/授权文献
- CN103868929B 密封面缺陷三维检测方法 公开/授权日:2017-01-25