发明公开
- 专利标题: 非接触式检测设备
- 专利标题(英): Non-contact type detection equipment
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申请号: CN201410126768.3申请日: 2014-03-31
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公开(公告)号: CN103868930A公开(公告)日: 2014-06-18
- 发明人: 陈嘉杰 , 刘青松 , 张涛 , 蒋良中 , 余冰 , 李晓 , 钱建华 , 董亚超 , 李志
- 申请人: 中科华核电技术研究院有限公司 , 中国广核集团有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市福田区上步中路西深圳科技大厦15层(1502-1504、1506)
- 专利权人: 中科华核电技术研究院有限公司,中国广核集团有限公司
- 当前专利权人: 中广核研究院有限公司,中国广核集团有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市福田区上步中路西深圳科技大厦15层(1502-1504、1506)
- 代理机构: 广州三环专利代理有限公司
- 代理商 张艳美; 陈进芳
- 主分类号: G01N21/88
- IPC分类号: G01N21/88 ; G01B11/22 ; G01B11/02
摘要:
本发明公开一种非接触式检测设备,其包括检测装置、X轴机械手、Y轴移载平台及下部适配板部件;Y轴移载平台的下端固定于下部适配板部件且其上设置有可沿Y轴方向移动的Y轴联接座,Y轴联接座的上端与X轴机械手的下端固定连接;X轴机械手上设置有可沿X轴方向移动的X轴联接座,检测装置的一端固定X轴联接座,另一端分别设置有可沿Z轴方向移动的视觉检测机构及位移检测机构。本发明用于对抛光后的表面进行图像采集及测量,获取抛光后表面缺陷的尺寸信息,为修复提供数据支持,适于精密表面无损及在线三维检测;且其结构紧凑,减少设备整体尺寸及体积,实现检测设备的小型化及便携化,使用时占据较小的使用空间,适用于多种工作环境。
公开/授权文献
- CN103868930B 非接触式检测设备 公开/授权日:2017-05-31