发明授权
CN104062266B 一种基于白光频域干涉法测量气体折射率的装置和方法
失效 - 权利终止
- 专利标题： 一种基于白光频域干涉法测量气体折射率的装置和方法
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申请号： CN201410271464.6申请日： 2014-06-17
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公开(公告)号： CN104062266B公开(公告)日： 2016-08-10
- 发明人: 杨永佳 , 蒋勇 , 邱荣 , 周自刚 , 闫汇
- 申请人： 西南科技大学
- 申请人地址： 四川省绵阳市涪城区青龙大道中段59号西南科技大学
- 专利权人： 西南科技大学
- 当前专利权人： 西南科技大学
- 当前专利权人地址： 四川省绵阳市涪城区青龙大道中段59号西南科技大学
- 代理机构： 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司
- 代理商 董芙蓉
- 主分类号： G01N21/45
- IPC分类号： G01N21/45
摘要：
本发明涉及一种基于白光频域干涉法测量气体折射率的装置和方法。该测量装置由宽带光源、宽带分束镜、宽带全反镜、两个石英空腔气室和光谱仪等光学元器件组成，由宽带光源发出的光经宽带分束镜分束和宽带反射镜反射后，两次通过石英空腔气室，并经宽带分束镜合束，最终共同进入光谱仪在频率域内发生频域干涉，通过对频域干涉信号的分析，可以精确获得气体的折射率。该方法是一种精度高、无需实时记录或观测的绝对测量方法，具有较大的应用和推广价值。
公开/授权文献
- CN104062266A 一种基于白光频域干涉法测量气体折射率的装置和方法 公开/授权日：2014-09-24
