• 专利标题: 一种基于分子动力学的金刚石涂层膜基界面结合强度测量方法
  • 专利标题(英): Measuring method for diamond coating film-substrate interface bonding strength based on molecular dynamics
  • 申请号: CN201410304471.1
    申请日: 2014-08-26
  • 公开(公告)号: CN104112042A
    公开(公告)日: 2014-10-22
  • 发明人: 简小刚张允华陈军
  • 申请人: 同济大学
  • 申请人地址: 上海市杨浦区四平路1239号
  • 专利权人: 同济大学
  • 当前专利权人: 同济大学
  • 当前专利权人地址: 上海市杨浦区四平路1239号
  • 代理机构: 上海正旦专利代理有限公司
  • 代理商 张磊
  • 主分类号: G06F17/50
  • IPC分类号: G06F17/50
一种基于分子动力学的金刚石涂层膜基界面结合强度测量方法
摘要:
本发明公开了一种基于分子动力学的金刚石涂层膜基界面结合强度测量方法,该方法主要特点在于:借助分子动力学理论和仿真计算软件建立硬质合金基底金刚石涂层膜基界面模型并对膜基界面的力学性能进行仿真计算,基于仿真结果建立硬质合金基底金刚石涂层膜基界面结合强度预测模型,并通过该预测模型精确测量金刚石涂层膜基界面结合强度。从而克服了现有刮剥法、压痕法、鼓泡法等各种实验测试方法耗时长、测量精度不高等缺点,可为金刚石涂层工艺优化及产业化开发提供依据和基础,因而具有广阔的应用前景。
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