- 专利标题: 一种多线列时差扫描亚像元图像非均匀校正方法
- 专利标题(英): Method for conducting non-uniformity correction on sub-pixel images through multi-linear-array time difference scanning
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申请号: CN201410320930.5申请日: 2014-07-04
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公开(公告)号: CN104143180A公开(公告)日: 2014-11-12
- 发明人: 孙晓峰 , 王世涛 , 宋鹏飞 , 高宏霞
- 申请人: 中国空间技术研究院
- 申请人地址: 北京市海淀区友谊路104号
- 专利权人: 中国空间技术研究院
- 当前专利权人: 中国空间技术研究院
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区友谊路104号
- 代理机构: 中国航天科技专利中心
- 代理商 庞静
- 主分类号: G06T5/00
- IPC分类号: G06T5/00
摘要:
一种多线列时差扫描亚像元图像非均匀校正方法,(1)构造多线列时差扫描探测装置;(2)每个线列探测器按照采样间隔在扫描方向进行扫描成像,每次成像分别得到Nt组图像数据,立即转入步骤(3);(3)分别将各个线列探测器的Nt组图像数据进行处理后形成一帧探测图像;(4)将帧探测图像拼接得到两幅亚像元图像;(5)将两幅亚像元图像按列进行交叉拼接形成图像Ip1;(6)得到列向非均匀校正后的图像Ip2;(7)重建两幅完成列向非均匀性校正的亚像元图像;(8)将两幅亚像元图像按同一方向分别旋转90°,得到图像Ip3;(9)重建两幅完成行向非均匀校正的亚像元图像。(10)将上述两幅亚像元图像反方向旋转90°。
公开/授权文献
- CN104143180B 一种多线列时差扫描亚像元图像非均匀校正方法 公开/授权日:2017-03-15