提供能够生成用于通过(例如集成电路中的)扫描链进行扫描测试的测试模式控制信号的方法和集成电路的各种实施例。该集成电路包括测试图案检测块(202)、计数器电路(204)和控制电路(206)。该测试图案检测块经配置以接收检测图案(208)，并基于该检测图案检测对应于测试图案的移位阶段的第一图案和对应于测试图案的捕捉阶段的第二图案，并基于该图案的检测而生成触发信号。控制电路基于计数状态生成并控制测试模式控制信号。计数器电路经配置以基于所检测的图案，生成对应于移位阶段、捕捉阶段和时钟信号(209)中的一种的一个或更多个计数状态。