- 专利标题: 具有双InGaN子量子阱的共振隧穿二极管及其制作方法
- 专利标题(英): Resonance tunneling diode with double InGaN sub quantum wells and manufacturing method thereof
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申请号: CN201410696211.3申请日: 2014-11-26
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公开(公告)号: CN104465913A公开(公告)日: 2015-03-25
- 发明人: 杨林安 , 陈浩然 , 李月 , 田言 , 陈安 , 郝跃
- 申请人: 西安电子科技大学
- 申请人地址: 陕西省西安市太白南路2号
- 专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人: 晋江三伍微电子有限公司
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市太白南路2号
- 代理机构: 陕西电子工业专利中心
- 代理商 王品华; 朱红星
- 主分类号: H01L33/06
- IPC分类号: H01L33/06 ; H01L33/32
摘要:
本发明公开了一种具有双InGaN子量子阱的共振隧穿二极管,主要改善现有器件隧穿电流小、I-V特性可重复性差的问题。其包括主体和辅体两部分,主体部分自下而上为:SiC衬底层、GaN外延层、n+GaN集电极欧姆接触层、第一GaN隔离层、第一InAlN势垒层、第一GaN主量子阱层、第二GaN主量子阱层、第二InAlN势垒层、第二GaN隔离层和n+GaN发射极欧姆接触层;辅体部分有环形电极、圆形电极和钝化层。环形电极在n+GaN集电极欧姆接触层上方,圆形电极在n+GaN发射极欧姆接触层上方,钝化层在环形和圆形电极上方。本发明能有效提高器件功率、降低功耗并改善可重复性,适用于太赫兹频段工作。
公开/授权文献
- CN104465913B 具有双InGaN子量子阱的共振隧穿二极管及其制作方法 公开/授权日:2017-06-16
IPC分类: