- 专利标题: 样品采集和热解析进样装置和方法以及痕量检测设备
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申请号: CN201410852020.1申请日: 2014-12-31
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公开(公告)号: CN104483423B公开(公告)日: 2016-03-09
- 发明人: 张清军 , 李元景 , 陈志强 , 朱伟平 , 何会绍 , 马秋峰 , 刘耀红 , 邹湘 , 常建平
- 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人: 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 汪洋
- 主分类号: G01N30/18
- IPC分类号: G01N30/18
摘要:
本发明提供了一种样品采集和热解析进样装置,包括:样品采集结构;活塞式吸附器,具有能够与样品采集结构连通的用于吸附所采集的样品的吸附腔;活塞缸,限定用于容纳该吸附器并与吸附腔连通的活塞腔;热解析腔,与吸附腔和活塞腔连通并热解析被吸附在吸附腔内的样品;和泵,通过导管与活塞腔连通并通过样品采集结构将环境气体中的样品抽吸到吸附腔,所述吸附器被构造成能够在样品采集位置和样品解析位置之间在活塞腔内移动,在采集位置中吸附腔定位在热解析腔外并与样品采集结构连通以吸附由其采集的样品,在解析位置中吸附腔定位在热解析腔内使所吸附的样品在热解析腔内被热解析。还提供了采用上述装置进行样品采集和解析的方法和痕量检测设备。
公开/授权文献
- CN104483423A 样品采集和热解析进样装置和方法以及痕量检测设备 公开/授权日:2015-04-01