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公开(公告)号：CN105486743B
公开(公告)日：2019-05-03
申请号：CN201511005824.9
申请日：2015-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明提供一种安检设备和利用该设备进行检查的方法。安检设备包括壳体和置于壳体内部的部件，壳体内部的部件包括：采样系统，采样系统包括用于采集样品的样品采集装置和传送装置；样品处理系统；和检测系统。样品采集装置包括采样模块和伸缩结构。采样模块包括多个吸气采样口和多个热气流吹扫口；并且，伸缩结构配置为承载采样模块并且根据待检物品的形状作出相应的伸缩动作将多个吸气采样口和多个热气流吹扫口靠近待检物品的表面。
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公开(公告)号：CN105277577B
公开(公告)日：2019-02-19
申请号：CN201510796132.4
申请日：2015-11-18
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/046 , G01N30/88 , G01N27/62 , G01V11/00
摘要： 本发明提供一种暗室式安检设备和使用该安检设备进行检查的方法。暗室式安检设备包括构成密闭的暗室的壳体和壳体内部的部件，壳体内部的部件包括：采样系统，采样系统包括传送装置、检测被检物体的位置的X射线检测装置以及用于采集样品的样品采集装置，其中X射线检测装置用于确定被检物体在到达采样系统内的相应位置，以便与传送装置一起将被检物体传送至期望的位置；样品处理系统；其中，采样系统、样品处理系统以及样品检测系统通过连接件连通。本发明的安检设备能够方便、快速、有效地取样和检测，不拆包，不破坏待检物品，适合于机场、海关等对违禁物品的快速筛查检测。
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公开(公告)号：CN105067642B
公开(公告)日：2018-06-01
申请号：CN201510564447.6
申请日：2015-09-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC分类号： G01T7/00 , G01J1/0271 , G01J2001/0276
摘要： 公开一种安全检查探测器及物品安全检查系统，安全检查探测器至少包括电路板、第一壳体、第二壳体、探测模块和连接接口。探测模块和连接接口安装于电路板上。第一壳体压紧连接在电路板第一表面上，第二壳体压紧连接在电路板的第二表面上。第一壳体、第二壳体可密封包覆探测模块和电路板上的电子学器件，但回避开连接接口，以便利用连接接口与相关互联线缆引出和连接。可利用壳体密封保护探测器中敏感的电子学器件，防潮并且防干扰；同时，原有探测器的外接接口都不会发生变化，因此不需要对安全检查系统中的探测器盒进行改造，探测器电路板也不需要重新设计。在减少改造成本的前提下，大大提高了探测器使用效果。
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公开(公告)号：CN105486743A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201511005824.9
申请日：2015-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
CPC分类号： G01N27/622 , G01B15/04 , G01N23/04
摘要： 本发明提供一种安检设备和利用该设备进行检查的方法。安检设备包括壳体和置于壳体内部的部件，壳体内部的部件包括：采样系统，采样系统包括用于采集样品的样品采集装置和传送装置；样品处理系统；和检测系统。样品采集装置包括采样模块和伸缩结构。采样模块包括多个吸气采样口和多个热气流吹扫口；并且，伸缩结构配置为承载采样模块并且根据待检物品的形状作出相应的伸缩动作将多个吸气采样口和多个热气流吹扫口靠近待检物品的表面。
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公开(公告)号：CN104483423A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201410852020.1
申请日：2014-12-31
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N30/18
CPC分类号： G01N1/02 , G01N1/2211 , G01N1/2214 , G01N1/2273 , G01N1/38 , G01N1/405 , G01N1/42 , G01N27/622 , G01N30/08 , G01N2030/128 , H01J49/0422 , H01J49/0459 , H01J49/0468
摘要： 本发明提供了一种样品采集和热解析进样装置，包括：样品采集结构；活塞式吸附器，具有能够与样品采集结构连通的用于吸附所采集的样品的吸附腔；活塞缸，限定用于容纳该吸附器并与吸附腔连通的活塞腔；热解析腔，与吸附腔和活塞腔连通并热解析被吸附在吸附腔内的样品；和泵，通过导管与活塞腔连通并通过样品采集结构将环境气体中的样品抽吸到吸附腔，所述吸附器被构造成能够在样品采集位置和样品解析位置之间在活塞腔内移动，在采集位置中吸附腔定位在热解析腔外并与样品采集结构连通以吸附由其采集的样品，在解析位置中吸附腔定位在热解析腔内使所吸附的样品在热解析腔内被热解析。还提供了采用上述装置进行样品采集和解析的方法和痕量检测设备。
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公开(公告)号：CN101900693A
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN200910085556.4
申请日：2009-05-25
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种所述夹轨器结构(20)，其包括机架(1)、凸轮机构(7)以及至少一个夹板(3、6)。所述凸轮机构(7)安装到机架(1)上并能够围绕其旋转中心旋转。所述至少一个夹板(3、6)通过销轴(11)可枢转地连接到机架(1)上，其中所述至少一个夹板(3、6)的一端能够与所述凸轮机构(7)在第一位置(A’)和第二位置(B’)之间接合，以驱动所述至少一个夹板(3、6)围绕销轴(11)枢转运动；以及响应于所述至少一个夹板(3、6)围绕销轴(11)的枢转运动，所述至少一个夹板(3、6)的另一端能够与轨道(17)形成接合以实现夹紧和脱离接合以实现放松。
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公开(公告)号：CN117555038A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311808694.7
申请日：2023-12-26
申请人： 北京神目科技有限公司 , 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 本发明提供了一种毫米波成像设备、安检设备以及安检方法。毫米波成像设备包括毫米波收发阵列和板。毫米波成像设备基于接收到的从被检查对象的表面反射回的毫米波和从板反射回的毫米波构建全息图像，并基于所构建的全息图像，重现并对比被检查对象的深度处的被检查对象的三维图像和板的深度处的二维图像，确定被检查对象是否包含其他物品。
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公开(公告)号：CN108535770B
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN201810437201.6
申请日：2018-05-09
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T7/00
摘要： 本发明公开了一种余辉检测装置和余辉检测方法。余辉检测装置包括：X射线管；第一读出电路，用于与被检测探测器连接，检测时被检测探测器接受X射线束辐射，并向第一读出电路输出第一探测信号，第一读出电路根据第一探测信号形成并输出第一测量信号；残余射线探测器；第二读出电路，与残余射线探测器连接，残余射线探测器接受X射线束辐射并向第二读出电路输出第二探测信号，第二读出电路根据第二探测信号形成并输出第二测量信号；计算装置，与第一读出电路和第二读出电路分别信号连接并根据关断X射线管的电源后的第一测量信号和第二测量信号计算并输出余辉检测信号。本发明具有简便、可靠的优点。
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公开(公告)号：CN107064361B
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201710252395.8
申请日：2014-12-31
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N30/02 , G01N30/72 , G01N30/18 , G01N30/16 , G01N30/06 , G01N30/08 , G01N27/62 , G01N1/02 , G01N30/30 , G01N1/40 , H01J49/04
摘要： 本发明公开了一种检测设备和检测方法。检测设备包括：采样装置，用于采集将要被检测的样品；预处理进样装置，用于对来自采样装置的样品预处理；样品分析装置，用于分离来自预处理进样装置的被预处理的样品和分析分离后的样品。本发明的检测设备实现小型化，并且能够在不开包的情况下快速准确地检测气相物质或颗粒物质，精确度高，适于机场、口岸、地铁站等安检。
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