发明公开
- 专利标题: 多工位微定位线位移测量装置
- 专利标题(英): Multi-station micro-positioning line displacement measuring device
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申请号: CN201310530182.9申请日: 2013-10-31
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公开(公告)号: CN104596406A公开(公告)日: 2015-05-06
- 发明人: 熊伟 , 李文璋 , 刘书选 , 甘霖 , 刘玉和 , 岳越
- 申请人: 北京精密机电控制设备研究所 , 中国运载火箭技术研究院
- 申请人地址: 北京市丰台区南大红门路1号
- 专利权人: 北京精密机电控制设备研究所,中国运载火箭技术研究院
- 当前专利权人: 北京精密机电控制设备研究所,中国运载火箭技术研究院
- 当前专利权人地址: 北京市丰台区南大红门路1号
- 代理机构: 核工业专利中心
- 代理商 高尚梅
- 主分类号: G01B7/02
- IPC分类号: G01B7/02
摘要:
本发明属于一种直线式位移测量装置,具体公开一种多工位多自由度高精度微定位直线位移测量装置。该装置包括基准载体,固定在基准载体上的测量夹持结构、固定在基准载体上的测量驱动结构、位于基准载体上且在测量驱动结构的驱动下可以相对于基准载体移动的多自由度调节装置,测量夹持结构、多自由度调节装置、测量驱动结构位于一条直线上;多自由度调节装置的移动方向为沿所述直线方向。该装置缩短测量时间,提高工作效率,节省了购买设备数量和经济成本;多自由度调节结构操作方便,执行灵活,体积小,稳定性高;高精度的滚珠丝杠作为连接装置,有效的减小系统的配合误差,提高了测量的精度。
公开/授权文献
- CN104596406B 多工位微定位线位移测量装置 公开/授权日:2017-05-03