- 专利标题: 一种RFMEMS器件双层光刻胶牺牲层的制备方法
- 专利标题(英): Preparation method of double-layer optical resist sacrificial layers of RF MEMS device
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申请号: CN201510065208.6申请日: 2015-02-09
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公开(公告)号: CN104627956A公开(公告)日: 2015-05-20
- 发明人: 刘晓兰 , 党元兰 , 庄志学
- 申请人: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
- 申请人地址: 河北省石家庄市中山西路589号第五十四所微组装中心
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
- 当前专利权人: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
- 当前专利权人地址: 河北省石家庄市中山西路589号第五十四所微组装中心
- 代理机构: 河北东尚律师事务所
- 代理商 王文庆
- 主分类号: B81C1/00
- IPC分类号: B81C1/00 ; G03F7/16
摘要:
本发明涉及RF MEMS器件制造领域,公开了一种RF MEMS器件双层光刻胶牺牲层的制备方法,主要包括用负胶进行第一牺牲层的制备、第一牺牲层的固化、用正胶进行第二牺牲层的制备、第二牺牲层的固化4个工艺步骤;其中,第二牺牲层制备过程中,用带有光刻孔的掩膜版曝光即可实现带触点悬浮结构牺牲层的制备。本发明利用双层光刻胶作牺牲层,其制备工艺简单、平坦化效果好、易于释放,并且可以方便的制备带触点悬浮结构的牺牲层。
公开/授权文献
- CN104627956B 一种RF MEMS器件双层光刻胶牺牲层的制备方法 公开/授权日:2018-12-07