一种RF MEMS器件双层光刻胶牺牲层的制备方法

    公开(公告)号:CN104627956B

    公开(公告)日:2018-12-07

    申请号:CN201510065208.6

    申请日:2015-02-09

    IPC分类号: B81C1/00 G03F7/16

    摘要: 本发明涉及RF MEMS器件制造领域,公开了一种RF MEMS器件双层光刻胶牺牲层的制备方法,主要包括用负胶进行第一牺牲层的制备、第一牺牲层的固化、用正胶进行第二牺牲层的制备、第二牺牲层的固化4个工艺步骤;其中,第二牺牲层制备过程中,用带有光刻孔的掩膜版曝光即可实现带触点悬浮结构牺牲层的制备。本发明利用双层光刻胶作牺牲层,其制备工艺简单、平坦化效果好、易于释放,并且可以方便的制备带触点悬浮结构的牺牲层。

    一种RFMEMS器件双层光刻胶牺牲层的制备方法

    公开(公告)号:CN104627956A

    公开(公告)日:2015-05-20

    申请号:CN201510065208.6

    申请日:2015-02-09

    IPC分类号: B81C1/00 G03F7/16

    摘要: 本发明涉及RF MEMS器件制造领域,公开了一种RF MEMS器件双层光刻胶牺牲层的制备方法,主要包括用负胶进行第一牺牲层的制备、第一牺牲层的固化、用正胶进行第二牺牲层的制备、第二牺牲层的固化4个工艺步骤;其中,第二牺牲层制备过程中,用带有光刻孔的掩膜版曝光即可实现带触点悬浮结构牺牲层的制备。本发明利用双层光刻胶作牺牲层,其制备工艺简单、平坦化效果好、易于释放,并且可以方便的制备带触点悬浮结构的牺牲层。