发明授权
- 专利标题: MEMS半导体器件的形成方法
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申请号: CN201410105998.1申请日: 2014-03-20
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公开(公告)号: CN104925742B公开(公告)日: 2016-09-07
- 发明人: 郑超 , 王伟
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 , 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 李仪萍
- 主分类号: B81C1/00
- IPC分类号: B81C1/00
摘要:
本发明提供一种形成方法至少包括:提供形成有第一铝焊垫和第二铝焊垫放入第一半导体衬底;提供第二半导体衬底,在所述第二半导体衬底上形成有连接结构,所述连接结构与所述第一铝焊垫一一对应;将所述第一铝焊垫和连接结构连接,以使得所述第二半导体衬底与所述第一半导体衬底键合;切割所述第二半导体衬底的部分厚度,所述第二半导体衬底被切割处与所述第二铝焊垫对应;利用去离子水对所述第二铝焊垫进行清洗;利用干法刻蚀刻蚀所述第二半导体衬底被切割处,使得所述第二半导体从被切割处断裂,暴露出所述第二铝焊垫;对所述第一半导体衬底和第二半导体进行清洗。本发明的技术方案避免了颗粒附着在第二铝焊垫的表面的问题。
公开/授权文献
- CN104925742A MEMS半导体器件的形成方法 公开/授权日:2015-09-23