发明公开
- 专利标题: ICP发光分光分析装置
- 专利标题(英): ICP emission spectrometer
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申请号: CN201510135146.1申请日: 2015-03-26
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公开(公告)号: CN104949963A公开(公告)日: 2015-09-30
- 发明人: 中川良知
- 申请人: 日本株式会社日立高新技术科学
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 日本株式会社日立高新技术科学
- 当前专利权人: 日本株式会社日立高新技术科学
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 张涛; 张懿
- 优先权: 2014-063959 2014.03.26 JP
- 主分类号: G01N21/73
- IPC分类号: G01N21/73
摘要:
公开了一种ICP发光分光分析装置。提供一种预先对光电倍增管施加电压以能够迅速地转移至主分析的ICP发光分光分析装置。ICP发光分光分析装置(1)由感应耦合等离子体发生部(10)、聚光部(20)、分光器(30)、检测器(40)以及控制部(60)大致构成。另外,在检测器(40)具备光电倍增管(70),具有检测器控制部(41)和输入部(42)。由于在光电倍增管(70)存在分压电阻r1~rn,因此由于被施加于光电倍增管(70)的施加电压Ve的变化而放大率不会立即变为固定,但是检测器控制部(41)在从预先向输入部(42)输入分析条件之后起直到向感应耦合等离子体装置(10)导入包括分析对象的元素的样本之前为止的期间中控制空转电压和空转电压施加时间来使倍增率固定。
公开/授权文献
- CN104949963B ICP发光分光分析装置 公开/授权日:2019-06-18