发明公开
- 专利标题: 基于声光调制的光学器件透反射率的测量系统
- 专利标题(英): Measurement system for optical element transmittance and reflectance based on acousto-optic modulation
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申请号: CN201510523247.6申请日: 2015-08-24
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公开(公告)号: CN105136431A公开(公告)日: 2015-12-09
- 发明人: 邵晓鹏 , 高苗 , 李晨旭 , 闫庭辉 , 赵大虎 , 温少华
- 申请人: 西安电子科技大学
- 申请人地址: 陕西省西安市太白南路2号
- 专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市太白南路2号
- 代理机构: 陕西电子工业专利中心
- 代理商 韦全生; 王品华
- 主分类号: G01M11/02
- IPC分类号: G01M11/02
摘要:
本发明公开了可以实现基于声光调制的光学器件透反射率的测量系统,主要解决现有系统测量精度不够高的问题。整个系统包括连续激光器、光路控制室、光电放大模块、反馈控制模块、测量转台和参数测量模块;激光器输出功率待稳定的激光,通过光路控制室后垂直照射到探测器上产生电流信号,光电放大模块将此电流信号放大为电压信号,反馈控制模块处理该电压信号得到反馈信号,以控制声光调制驱动器调节声光调制器以稳定激光的功率,高稳定度的激光入射到待测光学器件上,通过测量待测光学器件透过或反射得到的激光功率,来计算待测光学器件的透反射率。本发明具有测量精度高和操作简单等优点。