Invention Publication
CN105258798A 光电探测器光谱响应测试系统及其测量方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 光电探测器光谱响应测试系统及其测量方法
- Patent Title (English): A photoelectric detector spectral response test system and a measurement method thereof
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Application No.: CN201510759890.9Application Date: 2015-11-10
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Publication No.: CN105258798APublication Date: 2016-01-20
- Inventor: 赵茗 , 汪少锋 , 杨振宇
- Applicant: 华中科技大学 , 深圳华中科技大学研究院
- Applicant Address: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- Assignee: 华中科技大学,深圳华中科技大学研究院
- Current Assignee: 华中科技大学,深圳华中科技大学研究院
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- Agency: 华中科技大学专利中心
- Agent 曹葆青
- Main IPC: G01J3/28
- IPC: G01J3/28 ; G01J3/10

Abstract:
光电探测器光谱响应测试系统及其测量方法,属于光学辐射定标测量仪器及方法,解决现有测试系统成本昂贵且难以保证测量精度的问题,以实现光谱响应的高精度测量。本发明的测试系统,包括正弦调制光源、聚光透镜、单色仪、滤光片轮、暗箱、电机驱动电路,微控制器控制电路、前置放大电路、正弦锁相放大电路、数据采集卡和计算机,所述正弦调制光源为正弦调制的白炽灯、卤钨灯或LED光源。本发明使用正弦调制光源,采用可编程器件实现正弦锁相放大的方式,测量并绘制在300~900nm范围内的光电探测器光谱响应,实现高精度测量的同时,降低了设备成本和设计难度。
Public/Granted literature
- CN105258798B 光电探测器光谱响应测试系统及其测量方法 Public/Granted day:2017-08-25
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