发明授权
- 专利标题: 等离子体处理装置和等离子体处理方法
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申请号: CN201510455789.4申请日: 2015-07-29
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公开(公告)号: CN105316639B公开(公告)日: 2018-06-08
- 发明人: 木原嘉英 , 本田昌伸 , 久松亨
- 申请人: 东京毅力科创株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京林达刘知识产权代理事务所
- 代理商 刘新宇
- 优先权: 2014-153894 2014.07.29 JP
- 主分类号: C23C14/38
- IPC分类号: C23C14/38 ; H01J37/32 ; H01J37/34
摘要:
本发明提供一种等离子体处理装置和等离子体处理方法。目的在于在腔室内的电极上形成作为靶发挥功能的膜并对所形成的膜进行溅射。在该等离子体处理装置中,载置基板的第一电极与同上述第一电极相向地配置的第二电极以隔开规定的间隙的方式相向地配置,该等离子体处理装置具有:第一高频电源,其向上述第二电极供给第一高频电力;直流电源,其向上述第二电极供给直流电力;以及气体供给源,其向腔室内供给气体,上述第二电极具有利用通过供给第一气体和上述第一高频电力而生成的等离子体形成的反应产物的膜,上述第二电极成为利用通过供给第二气体、上述第一高频电力以及上述直流电力而生成的等离子体对上述反应产物的膜进行溅射的靶。
公开/授权文献
- CN105316639A 等离子体处理装置和等离子体处理方法 公开/授权日:2016-02-10
IPC分类: