发明授权
- 专利标题: 预压力残存率的侦测方法
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申请号: CN201410321819.8申请日: 2014-07-08
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公开(公告)号: CN105319235B公开(公告)日: 2018-03-13
- 发明人: 蔡孟勳 , 谢文馨 , 杨安石 , 袁伟翔 , 黄泓纬 , 刘崇庆 , 黄逸羣
- 申请人: 上银科技股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾台中市南屯区精科路7号
- 专利权人: 上银科技股份有限公司
- 当前专利权人: 上银科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾台中市南屯区精科路7号
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 宋焰琴
- 优先权: 103121987 2014.06.25 TW
- 主分类号: G01N25/20
- IPC分类号: G01N25/20 ; G01L5/00
摘要:
一种预压力残存率的侦测方法,包含有下列步骤:a.在可相对移动的二组件其中之一安装一温度传感器;b.使该二组件相对移动,同时记录该温度传感器所感测到的温度随时间的变化,进而得到一初始温升曲线;c.使该二组件相对移动,同时记录该温度传感器所感测到的温度随时间的变化,进而得到一侦测温升曲线;d.比较该初始温升曲线与该侦测温升曲线的差异,进而得到该二组件在该步骤c进行时相对于该步骤b进行时的预压力残存率;该侦测方法可在受测物运转时侦测其所受预压力的残存率,且成本低、使用寿命长、反应速度快、侦测结果较为准确。
公开/授权文献
- CN105319235A 预压力残存率的侦测方法 公开/授权日:2016-02-10