发明授权
- 专利标题: 一种深槽隔离结构的制作方法
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申请号: CN201410417668.6申请日: 2014-08-22
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公开(公告)号: CN105428299B公开(公告)日: 2019-01-11
- 发明人: 林率兵 , 王永刚 , 姜海涛 , 蔡丹华
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 李仪萍
- 主分类号: H01L21/762
- IPC分类号: H01L21/762
摘要:
本发明提供一种深槽隔离结构的制作方法,至少包括以下步骤:S1:提供一衬底,在所述衬底中形成至少一个深槽,并在所述深槽中填满多晶硅;S2:进行退火以使所述多晶硅的晶粒结构重组;S3:采用Cl2与HBr的混合气体作为刻蚀气体对所述多晶硅进行回刻,去除所述深槽外多余的多晶硅;S4:采用SF6作为刻蚀气体对所述多晶硅进行过刻蚀,在所述深槽顶部获得平坦的多晶硅表面。本发明不仅可以改善深槽内部及表面的多晶硅接缝现象,提高多晶硅熔合程度,同时可以在所述深槽顶部获得平坦光滑的多晶硅表面的同时减少多晶硅的过刻蚀量,减少深槽顶部的下沉程度。
公开/授权文献
- CN105428299A 一种深槽隔离结构的制作方法 公开/授权日:2016-03-23
IPC分类: