发明公开

记录介质
摘要:
本发明提供记录介质。记录介质依次包括基材、第一墨接收层、和作为最表层的第二墨接收层。第一墨接收层包含平均粒径为1.0μm以上的无定形二氧化硅。第二墨接收层包含胶体二氧化硅。第二墨接收层的表面的JIS B0601:2001中规定的粗糙度轮廓单元的均方根斜率RΔq为0.3以上。
公开/授权文献
0/0