晶片封装体及其制造方法
Abstract:
本发明揭露一种晶片封装体及其制造方法,该晶片封装体包括:一第一基底,具有一上表面、一下表面及一侧壁,其中一感测区或元件区及一导电垫邻近于上表面;一通孔,贯穿第一基底;以及一重布线层,自下表面延伸至通孔内,且与导电垫电性连接,其中重布线层还自下表面横向延伸而突出于第一基底的侧壁。本发明不仅能够提升晶片封装体的感测敏感度,还可缩小晶片封装体的尺寸。
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