发明公开
- 专利标题: Ⅲ-Ⅴ器件在Si晶片上的集成
- 专利标题(英): Integration of iii-v devices on Si wafers
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申请号: CN201380079246.6申请日: 2013-09-27
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公开(公告)号: CN105493239A公开(公告)日: 2016-04-13
- 发明人: S·达斯古普塔 , H·W·田 , S·H·宋 , S·K·加德纳 , M·拉多萨夫列维奇 , B·舒-金 , R·S·周
- 申请人: 英特尔公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚
- 专利权人: 英特尔公司
- 当前专利权人: 英特尔公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 陈松涛; 王英
- 国际申请: PCT/US2013/062481 2013.09.27
- 国际公布: WO2015/047355 EN 2015.04.02
- 进入国家日期: 2016-02-29
- 主分类号: H01L21/20
- IPC分类号: H01L21/20
摘要:
在衬底上的沟槽中的多个台面结构上共形地沉积绝缘层。所述绝缘层填充所述台面结构外部的空间。在所述台面结构上沉积成核层。在所述成核层上沉积Ⅲ-Ⅴ材料层。Ⅲ-Ⅴ材料层在所述绝缘层上方横向生长。
公开/授权文献
- CN105493239B Ⅲ-Ⅴ器件在Si晶片上的集成 公开/授权日:2018-11-06
IPC分类: