- 专利标题: 上面级单机正弦扫描试验条件精细化设计方法
- 专利标题(英): Upper stage single machine sine scan test condition refining design method
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申请号: CN201410637581.X申请日: 2014-11-06
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公开(公告)号: CN105628416A公开(公告)日: 2016-06-01
- 发明人: 林宏 , 彭慧莲 , 张新宇 , 东华鹏 , 陈益 , 陈学生 , 刘欣 , 肖泽宁
- 申请人: 北京宇航系统工程研究所 , 中国运载火箭技术研究院
- 申请人地址: 北京市丰台区南大红门路1号
- 专利权人: 北京宇航系统工程研究所,中国运载火箭技术研究院
- 当前专利权人: 北京宇航系统工程研究所,中国运载火箭技术研究院
- 当前专利权人地址: 北京市丰台区南大红门路1号
- 代理机构: 核工业专利中心
- 代理商 刘昕宇
- 主分类号: G01M99/00
- IPC分类号: G01M99/00
摘要:
本发明公开了一种上面级单机正弦扫描试验条件精细化设计方法,采用理论和试验结合的方法,将星箭载荷耦合分析结果中上面级/火箭界面加速度的作为外力函数、上面级系统级正弦扫描试验单机处加速度响应与激励比值作为传递特性,将两者相乘,并取指定倍数的安全系数,得出单机最大环境包络。此方法可给出不同频率处对应的环境包络,试验条件更为精细,从而避免了环境条件设计的严酷性,同时试验条件较准确且有一定的余量。且本发明中系统级正弦扫描试验数据处理、试验条件包络均可采用数据化批量处理,有效提高了力学环境条件设计的效率和精细程度。
公开/授权文献
- CN105628416B 上面级单机正弦扫描试验条件精细化设计方法 公开/授权日:2017-12-22