发明授权
- 专利标题: 一种层状介质瞬变电磁测深定性分析方法
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申请号: CN201610156456.6申请日: 2016-03-18
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公开(公告)号: CN105676301B公开(公告)日: 2018-08-21
- 发明人: 席振铢 , 黄龙 , 宋刚 , 周胜 , 龙霞 , 侯海涛 , 陈兴朋 , 薛军平 , 亓庆新 , 王亮 , 肖炜 , 邓华 , 韦洪兰 , 王鹤 , 边祥会 , 董志强 , 潘纪敏 , 范福来
- 申请人: 湖南五维地质科技有限公司
- 申请人地址: 湖南省长沙市麓谷高新区瑞龙路麓谷坐标A-604
- 专利权人: 湖南五维地质科技有限公司
- 当前专利权人: 深圳市金航深海矿产开发集团有限公司
- 当前专利权人地址: 湖南省长沙市麓谷高新区瑞龙路麓谷坐标A-604
- 代理机构: 长沙永星专利商标事务所
- 代理商 周咏; 林毓俊
- 主分类号: G01V3/38
- IPC分类号: G01V3/38
摘要:
本发明涉及一种层状介质瞬变电磁测深定性分析方法,包括下述的步骤:利用瞬变电磁法获得层状介质断面单个实测点的二次场衰减曲线;确定背景二次场曲线;将单个实测点的二次场衰减曲线数值对应比上背景二次场曲线数值,所得结果再取相反数,得到二次场反比值曲线;根据二次场反比值曲线随时间变化规律定性判断层状地电结构或相对于参考点的地电结构的变化。该方法能够就单个瞬变电磁测深点进行垂向电性结构的定性分析,同时能够实时对比测点相对背景参考点下方的垂向电性结构变化,以便现场实时发现异常测点并做出应对。
公开/授权文献
- CN105676301A 一种层状介质瞬变电磁测深定性分析方法 公开/授权日:2016-06-15