• 专利标题: 一种基于二线制等电势法的阻性传感器阵列测试电路
  • 专利标题(英): Test circuit for resistive sensor array based on two-wire system isopotential method
  • 申请号: CN201610060141.1
    申请日: 2016-01-28
  • 公开(公告)号: CN105716644A
    公开(公告)日: 2016-06-29
  • 发明人: 吴剑锋何赏赏李建清
  • 申请人: 东南大学
  • 申请人地址: 江苏省南京市四牌楼2号
  • 专利权人: 东南大学
  • 当前专利权人: 东南大学
  • 当前专利权人地址: 江苏省南京市四牌楼2号
  • 代理机构: 江苏永衡昭辉律师事务所
  • 代理商 杨楠
  • 主分类号: G01D18/00
  • IPC分类号: G01D18/00
一种基于二线制等电势法的阻性传感器阵列测试电路
摘要:
本发明公开了一种基于二线制等电势法的阻性传感器阵列测试电路,属于传感器技术领域。所述测试电路针对共用行线和列线的M×N二维阻性传感器阵列,包括:一个等电流驱动运放、N个列线驱动运放、一个等电流M选一多路开关、一个等电势M选一多路开关、N个列线二选一多路开关、测试电流采样电阻、基准电压源,以及为所述阻性传感器阵列的每一条行线和列线分别设置的两根连接线。本发明还公开了上述测试电路的测试方法及一种传感系统。相比现有技术,本发明以二线制等电势法为关键技术,可有效消除连接电缆引线电阻、线缆接头触点电阻以及多路开关通道导通电阻所产生的测量误差,大幅提高阻性传感器阵列的测量精度。
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