发明授权
- 专利标题: 一种浮栅及其制备方法
-
申请号: CN201610119567.X申请日: 2016-03-03
-
公开(公告)号: CN105742171B公开(公告)日: 2018-09-28
- 发明人: 许毅胜 , 熊涛 , 刘钊 , 舒清明
- 申请人: 上海格易电子有限公司 , 北京兆易创新科技股份有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路498号1幢502/15
- 专利权人: 上海格易电子有限公司,北京兆易创新科技股份有限公司
- 当前专利权人: 上海格易电子有限公司,兆易创新科技集团股份有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路498号1幢502/15
- 代理机构: 北京品源专利代理有限公司
- 代理商 胡彬; 邓猛烈
- 主分类号: H01L21/28
- IPC分类号: H01L21/28 ; H01L29/423
摘要:
本发明公开了一种浮栅及其制备方法。所述制备方法包括:在衬底上依次形成衬垫氧化层和保护介质层,对所述保护介质层、所述衬垫氧化层和所述衬底进行图像化处理,形成有源区和浅沟槽隔离区,并对所述浅沟槽隔离区进行氧化层填充;剥离剩余保护介质层形成第一凹槽;在所述第一凹槽内壁上形成侧墙;去除剩余衬垫氧化层,以保留靠近所述侧墙的浅沟槽氧化层;依次去除所述侧墙和多余的浅沟槽氧化层,形成第二凹槽;在所述第二凹槽内露出的有源区上形成隧穿氧化层;在所述隧穿氧化层上形成栅极。本发明实施例提供的技术方案,在保证衬垫氧化层去除干净的前提下,避免了因相邻浮栅距离减小导致的浮栅器件的存储性能降低。
公开/授权文献
- CN105742171A 一种浮栅及其制备方法 公开/授权日:2016-07-06
IPC分类: