Invention Grant
- Patent Title: 间接式全光路光谱检测系统的不确定度评估方法
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Application No.: CN201610311604.7Application Date: 2016-05-11
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Publication No.: CN105784270BPublication Date: 2019-01-22
- Inventor: 庄志 , 张毅 , 黎启胜 , 李明海 , 胡绍全 , 李翀
- Applicant: 中国工程物理研究院总体工程研究所
- Applicant Address: 四川省绵阳市绵山路64号
- Assignee: 中国工程物理研究院总体工程研究所
- Current Assignee: 中国工程物理研究院总体工程研究所
- Current Assignee Address: 四川省绵阳市绵山路64号
- Agency: 北京天奇智新知识产权代理有限公司
- Agent 杨春
- Main IPC: G01L25/00
- IPC: G01L25/00
Abstract:
本发明公开了一种间接式全光路光谱检测系统的不确定度评估方法，包括下述步骤：获得测试数据，建立测量模型，评定光栅传感器工作直线不确定度，评定光纤压力测试系统的不确定度；本发明利用光栅传感器，采用间接方法对不可拆卸的波长调制型光纤压力检测系统的皮米量级的波长偏移量的测量精度进行不确定度评估，设计并构建了不确定度分析实验系统，对系统误差来源进行了分析，建立了理论测量模型和不确定度分析方法，获得了系统测量误差的不确定度值。
Public/Granted literature
- CN105784270A 间接式全光路光谱检测系统的不确定度评估装置和方法 Public/Granted day:2016-07-20
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