发明授权
- 专利标题: 外延晶圆的制造方法及外延生长用硅系基板
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申请号: CN201580011736.1申请日: 2015-02-10
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公开(公告)号: CN106068547B公开(公告)日: 2019-06-04
- 发明人: 萩本和德 , 篠宫胜 , 土屋庆太郎 , 后藤博一 , 佐藤宪 , 鹿内洋志 , 小林昇一 , 栗本宏高
- 申请人: 信越半导体株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 信越半导体株式会社
- 当前专利权人: 信越半导体株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京路浩知识产权代理有限公司
- 代理商 谢顺星; 张晶
- 优先权: 2014-041976 2014.03.04 JP
- 国际申请: PCT/JP2015/000595 2015.02.10
- 国际公布: WO2015/133063 JA 2015.09.11
- 进入国家日期: 2016-08-31
- 主分类号: H01L21/205
- IPC分类号: H01L21/205 ; C23C16/02 ; C23C16/34 ; H01L21/20
摘要:
本发明为一种外延晶圆的制造方法,该外延晶圆在硅系基板上具有外延层,该外延晶圆的制造方法的特征在于,在对所述硅系基板的外周部进行平台加工后,使半导体层在所述硅系基板上外延生长。由此,提供一种在硅系基板上具有外延层的外延晶圆的制造方法,该外延晶圆的制造方法能够获得一种完全无裂痕的外延晶圆。
公开/授权文献
- CN106068547A 外延晶圆的制造方法及外延生长用硅系基板 公开/授权日:2016-11-02
IPC分类: