- 专利标题: 气固两相流颗粒团多参数同时测量方法与装置
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申请号: CN201610621045.X申请日: 2016-08-01
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公开(公告)号: CN106290078B公开(公告)日: 2019-12-31
- 发明人: 杨斌 , 姜勇俊 , 平力 , 王占平 , 于天泽 , 武强 , 郭浩然 , 蔡小舒
- 申请人: 上海理工大学
- 申请人地址: 上海市杨浦区军工路516号
- 专利权人: 上海理工大学
- 当前专利权人: 上海理工大学
- 当前专利权人地址: 上海市杨浦区军工路516号
- 代理机构: 上海德昭知识产权代理有限公司
- 代理商 郁旦蓉
- 主分类号: G01N15/00
- IPC分类号: G01N15/00 ; G01N15/06
摘要:
本发明提供了一种气固两相流颗粒团多参数同时测量方法与装置,测量装置包括包括:激光光源单元,包含偶数个用于照射检测通道内的颗粒团的激光器和用于控制激光器的激光强度的激光控制器;光电信号采集处理单元,包含与激光器数量相等的光电探测器和与光电探测器相连的光电信号采集单元以及光电信号处理单元,其中,光电探测器用于将透过检测通道的激光强度信号转换为电信号,光电信号采集单元用于将光电探测器得到的电信号转换为激光强度数字信号,光电信号处理单元用于将光电信号采集单元采集的激光强度数字信号进行处理分析得到颗粒团运动速度、高度和体积浓度。本发明的气固两相流颗粒团多参数同时测量方法与装置测量方法简单,灵敏度高。
公开/授权文献
- CN106290078A 气固两相流颗粒团多参数同时测量方法与装置 公开/授权日:2017-01-04