Invention Publication
- Patent Title: 高分辨率SAR卫星辐射性能分析方法
- Patent Title (English): Method for analyzing radiation properties of high-resolution SAR (synthetic aperture radar) satellites
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Application No.: CN201610648865.8Application Date: 2016-08-09
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Publication No.: CN106353777APublication Date: 2017-01-25
- Inventor: 韩晓磊 , 张庆君 , 刘杰 , 张润宁 , 闫雪梅
- Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
- Applicant Address: 北京市海淀区友谊路104号
- Assignee: 北京空间飞行器总体设计部
- Current Assignee: 北京空间飞行器总体设计部
- Current Assignee Address: 北京市海淀区友谊路104号
- Agency: 中国航天科技专利中心
- Agent 张丽娜
- Main IPC: G01S19/23
- IPC: G01S19/23

Abstract:
本发明涉及一种高分辨率SAR卫星辐射性能分析方法,该方法通过精确计算各种星载SAR工作模式辐射性能指标,对高分辨率SAR卫星的系统设计结果进行检验和复核,特别是针对基于变重频模式的高分辨率SAR卫星,属于SAR卫星总体设计技术领域。本发明从单脉冲雷达方程出发,通过沿成像时间逐点计算回波信号能量,充分反映了SAR卫星天线增益、地物后向散射系数、斜距和雷达散射面积随时间的变化情况,得到准确的成像回波信号能量,进而得到准确的高分辨率SAR卫星辐射性能指标。
Public/Granted literature
- CN106353777B 高分辨率SAR卫星辐射性能分析方法 Public/Granted day:2018-08-31
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