发明授权
- 专利标题: 高分辨率SAR卫星辐射性能分析方法
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申请号: CN201610648865.8申请日: 2016-08-09
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公开(公告)号: CN106353777B公开(公告)日: 2018-08-31
- 发明人: 韩晓磊 , 张庆君 , 刘杰 , 张润宁 , 闫雪梅
- 申请人: 北京空间飞行器总体设计部
- 申请人地址: 北京市海淀区友谊路104号
- 专利权人: 北京空间飞行器总体设计部
- 当前专利权人: 北京空间飞行器总体设计部
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区友谊路104号
- 代理机构: 中国航天科技专利中心
- 代理商 张丽娜
- 主分类号: G01S19/23
- IPC分类号: G01S19/23
摘要:
本发明涉及一种高分辨率SAR卫星辐射性能分析方法,该方法通过精确计算各种星载SAR工作模式辐射性能指标,对高分辨率SAR卫星的系统设计结果进行检验和复核,特别是针对基于变重频模式的高分辨率SAR卫星,属于SAR卫星总体设计技术领域。本发明从单脉冲雷达方程出发,通过沿成像时间逐点计算回波信号能量,充分反映了SAR卫星天线增益、地物后向散射系数、斜距和雷达散射面积随时间的变化情况,得到准确的成像回波信号能量,进而得到准确的高分辨率SAR卫星辐射性能指标。
公开/授权文献
- CN106353777A 高分辨率SAR卫星辐射性能分析方法 公开/授权日:2017-01-25