发明公开
CN106435721A 一种GaAs/Si外延材料制备方法
无效 - 驳回
- 专利标题: 一种GaAs/Si外延材料制备方法
- 专利标题(英): GaAs/Si epitaxial material preparation method
-
申请号: CN201610844357.7申请日: 2016-09-22
-
公开(公告)号: CN106435721A公开(公告)日: 2017-02-22
- 发明人: 王文庆
- 申请人: 东莞市联洲知识产权运营管理有限公司
- 申请人地址: 广东省东莞市松山湖高新技术产业工发区生产力大厦406
- 专利权人: 东莞市联洲知识产权运营管理有限公司
- 当前专利权人: 东莞市联洲知识产权运营管理有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省东莞市松山湖高新技术产业工发区生产力大厦406
- 代理机构: 北京众合诚成知识产权代理有限公司
- 代理商 连平
- 主分类号: C30B25/18
- IPC分类号: C30B25/18 ; C30B29/42 ; H01L21/02
摘要:
本发明涉及半导体制造及设计技术领域,特别涉及一种GaAs/Si外延材料制备方法,包括:选取单晶Si衬底,并对单晶Si衬底清洗;在所述单晶Si衬底上形成凹层;在所述凹层上形成Si薄膜层,Si薄膜层在凹层的凹槽处悬空设置;在所述Si薄膜层上形成GaAs种子层;在所述GaAs种子层上形成GaAs第一缓冲层;在所述GaAs第一缓冲层上形成GaAs第二缓冲层;在所述GaAs第二缓冲层上形成GaAs外延层。本发明实现了在价格便宜的单晶Si衬底上制备高质量的GaAs晶体薄膜,并且未引入附加应力场,在后续的器件制作中对器件品质不会产生附加的不良影响。
IPC分类: