发明公开
- 专利标题: 一种基于趋肤效应的铁磁性导体磁化曲线测量方法及系统
- 专利标题(英): Method and system for measuring magnetization curve of ferromagnetic conductor based on skin effect
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申请号: CN201610957453.2申请日: 2016-10-27
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公开(公告)号: CN106443527A公开(公告)日: 2017-02-22
- 发明人: 杨勇 , 杨文璐 , 杨远聪 , 安虹宇 , 王华俊
- 申请人: 中国地质大学(武汉)
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号中国地质大学(武汉)地质资源环境工业技术研究院
- 专利权人: 中国地质大学(武汉)
- 当前专利权人: 中国地质大学(武汉)
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号中国地质大学(武汉)地质资源环境工业技术研究院
- 代理机构: 北京轻创知识产权代理有限公司
- 代理商 杨立; 陈振玉
- 主分类号: G01R33/12
- IPC分类号: G01R33/12
摘要:
本发明涉及一种基于趋肤效应的铁磁性导体磁化曲线测量方法及系统,其系统包括信号源单元、电压检测单元和主控制单元。信号源单元连接在待测样品两端,为待测样品提供直流偏置电流和交流激励电流;电压检测单元检测待测样品上两个目标检测点之间的电压信号;主控制单元计算待测样品的电阻率和待测样品在对应偏置电流下的相对磁导率;还计算磁场强度和/或磁感应强度,并绘制待测样品的磁化曲线。本发明实现了铁磁性导体材料相对磁导率以及磁化曲线的无损检测,检测方便,灵敏度较高,测试稳定可靠。