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公开(公告)号：CN1556394A
公开(公告)日：2004-12-22
申请号：CN200310125432.7
申请日：2003-12-31
申请人： 中国地质大学(武汉)
IPC分类号： G01N21/64
摘要： 本发明涉及一种对矿物和材料等样品进行微量元素、缺陷、生长条件及过程等特性进行分析和鉴别的方法。矿物等材料红外荧光分析法，其特征是：选取波长短于且仅略短于待分析荧光谱峰波长的近紫外－红外光源以面、线、点或扩束方式照射放置在样品台上的待分析的矿物材料等样品，激发出红外荧光，将红外荧光会聚到分光器的入射窗口上，在分光器出射窗口处设置光电探测器，进行光电转换，将荧光转换成的电信号模数转换成数字信号，经接口输入计算机，计算机绘制波长－强度曲线，即荧光光谱，对荧光光谱(主要是红外部分)的峰形、峰位、强度分析，获取矿物材料等样品信息。本发明具有可分析的矿物和材料等样品种类多、可分析的波长范围广、荧光激发效率高、成本低的特点。
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公开(公告)号：CN105675657B
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN201610017513.2
申请日：2016-01-12
申请人： 中国地质大学(武汉)
摘要： 本发明涉及一种基于趋肤效应的样品表面覆膜的无损检测方法及系统，包括采用频率可变的交流信号作用于待测样品的两端；逐渐增加交流信号的频率，检测不同频率的交流信号对应的待测样品两端的电阻或电压，并进行曲线绘制获取待测样品的电阻‑频率曲线或电压‑频率曲线；分析待测样品的电阻变化量或待测样品两端电压变化量随频率变化的规律，并计算或标样对比得到待测样品覆膜的厚度。本发明的基于趋肤效应的样品表面覆膜的无损检测方法及系统，可对待测样品进行整体测量，检测灵敏度较高，并且可实现自动化测量，检测效率较高。另外，由于趋肤效应，高频时材料表面的缺陷对高频信号更敏感，通过改变交流信号的频率还可以获取镀膜表面缺陷及裂纹深度分布信息。
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公开(公告)号：CN107064219B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201610958136.2
申请日：2016-10-27
申请人： 中国地质大学(武汉)
IPC分类号： G01N27/00
摘要： 本发明涉及基于趋肤效应的铁磁性导体材料表面硬度测量方法及系统，其系统包括交流恒流信号模块、交流电压检测模块和主控制模块。交流恒流信号模块为标样或待测样品提供高频或低频交流恒流信号；交流电压检测模块检测不同已知表面硬度HS(i)的标样上两个目标检测点之间的高频电压值VSH(i)；还检测待测样品上两个目标检测点之间的高频电压值VSH'；主控制模块绘制标样的表面硬度HS(i)随高频电压值VSH(i)的变化曲线HS(i)～VSH(i)；还在变化曲线HS(i)～VSH(i)中读取所述高频电压值VSH'对应的待测样品表面硬度HS'(i)。本发明受表面影响小，可检测表面复杂和表面有污染等样品，没有提离度问题，对样品几何参数无定量要求，测试简单可靠，还可用于评估待测样品表面硬度强化层的深度。
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公开(公告)号：CN106443527A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610957453.2
申请日：2016-10-27
申请人： 中国地质大学(武汉)
IPC分类号： G01R33/12
CPC分类号： G01R33/1223 , G01R33/1215
摘要： 本发明涉及一种基于趋肤效应的铁磁性导体磁化曲线测量方法及系统，其系统包括信号源单元、电压检测单元和主控制单元。信号源单元连接在待测样品两端，为待测样品提供直流偏置电流和交流激励电流；电压检测单元检测待测样品上两个目标检测点之间的电压信号；主控制单元计算待测样品的电阻率和待测样品在对应偏置电流下的相对磁导率；还计算磁场强度和/或磁感应强度，并绘制待测样品的磁化曲线。本发明实现了铁磁性导体材料相对磁导率以及磁化曲线的无损检测，检测方便，灵敏度较高，测试稳定可靠。
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公开(公告)号：CN106405236A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201610957455.1
申请日：2016-10-27
申请人： 中国地质大学(武汉)
IPC分类号： G01R23/16
CPC分类号： G01R23/16
摘要： 本发明涉及一种直流稳压电源微弱纹波及谐波电压检测装置及方法，其装置包括纹波信号提取电路、参考信号电路和测量电路，所述纹波信号提取电路和参考信号电路分别与所述测量电路连接。本发明的一种直流稳压电源微弱纹波及谐波电压检测装置及方法，采用锁相放大电路进行测量，参考信号取自变压器或开关电源振荡器，检测灵敏度和抗干扰能力强，能够测量微伏或亚微伏级别的纹波及高次谐波电压，非常方便。
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公开(公告)号：CN106092401A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610371436.0
申请日：2016-05-30
申请人： 中国地质大学(武汉)
CPC分类号： G01L5/0047 , G01N27/00 , G01N27/72
摘要： 本发明涉及一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法及系统，其系统包括恒流信号模块、应力施加模块、电参数检测模块和主控制模块。恒流信号模块提供电流有效值恒定的高频或低频恒流信号；电参数检测模块检测在不同预设应力εi作用下的高频电压值VHi和在任意未知的应力ε'时的高频电压值VH'；应力施加模块在待测样品上施加可调的应力；主控制模块绘制待测样品的高频电压值VHi随应力εi的变化曲线VHi～εi；并在变化曲线VHi～εi中读取高频电压值VH'对应的应力值ε'。本发明实现了对铁磁性导体材料应力的无损检测，检测方便、简单，对外界环境要求比较低，灵敏度较高。适于对钢缆、钢梁、钢轨等钢铁构件的应力及分布测量。
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公开(公告)号：CN107504891B
公开(公告)日：2019-11-05
申请号：CN201710585688.8
申请日：2017-07-18
申请人： 中国地质大学(武汉)
IPC分类号： G01B7/06
摘要： 本发明涉及一种钢铁表面非铁磁质金属覆膜厚度测量方法及系统，其方法包括取规格相同、镀层厚度不同的标样进行电感随频率变化的测试，测得不同频率下每种镀层厚度标样的电感，并绘制各标样的电感随频率变化曲线；根据电感随频率变化曲线确定各标样的电感随镀层厚度变化最敏感的频率，并标记为最佳频点；根据标样的镀层厚度及其在最佳频点处的电感Li0绘制校正曲线；测量待测样品在最佳频点处的电感值，并根据校正曲线读取待测样品的镀层厚度。本发明通过检测非铁磁性金属镀层的厚度对铁磁性金属镀件电感的影响来推算待测样品表面的覆膜厚度，实现了镀层厚度的无损检测，检测效率较高，对于样品的形状要求较低，检测灵敏度高，对检测设备要求较低。
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公开(公告)号：CN105548281B
公开(公告)日：2018-04-17
申请号：CN201610017512.8
申请日：2016-01-12
申请人： 中国地质大学(武汉)
IPC分类号： G01N27/20
摘要： 本发明涉及一种基于趋肤效应电阻过剩噪声的无损检测系统及方法，包括激励信号源、电流馈电点、过剩噪声采样点和过剩噪声测量模块；电流馈电点，分别设置在待测样品和比对样品的测试部位的两端；过剩噪声采样点，设置在测试部分的两个电流馈电点内侧，每个过剩噪声采样点与之同侧的电流馈电点之间间隔预设距离；激励信号源，用于与电流馈电点电连接，分别为待测样品和比对样品提供交流电；过剩噪声测量模块，用于与过剩噪声采样点电连接，分别测量待测样品和比对样品的低频过剩噪声。本发明可获知待测样品的裂纹损伤程度及裂纹统计平均深度情况，且检测时不需进行样品处理，操作快捷、方便；从整体全局实现样品的无损检测，节约时间和成本。
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公开(公告)号：CN1296700C
公开(公告)日：2007-01-24
申请号：CN200310125432.7
申请日：2003-12-31
申请人： 中国地质大学(武汉)
IPC分类号： G01N21/64
摘要： 本发明涉及一种对矿物和材料等样品进行微量元素、缺陷、生长条件及过程等特性进行分析和鉴别的方法。矿物等材料红外荧光分析法，其特征是：选取波长短于且仅略短于待分析荧光谱峰波长的近紫外-红外光源以面、线、点或扩束方式照射放置在样品台上的待分析的矿物材料等样品，激发出红外荧光，将红外荧光会聚到分光器的入射窗口上，在分光器出射窗口处设置光电探测器，进行光电转换，将荧光转换成的电信号模数转换成数字信号，经接口输入计算机，计算机绘制波长-强度曲线，即荧光光谱，对荧光光谱(主要是红外部分)的峰形、峰位、强度分析，获取矿物材料等样品信息。本发明具有可分析的矿物和材料等样品种类多、可分析的波长范围广、荧光激发效率高、成本低的特点。
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公开(公告)号：CN105891746B
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201610227687.1
申请日：2016-04-13
申请人： 中国地质大学(武汉)
IPC分类号： G01R33/12
摘要： 本发明涉及一种基于趋肤效应的铁磁导体相对磁导率检测方法及系统，所述方法包括检测半径为r的圆柱形待测样品上任意相距L的两个检测点之间的低频电阻值R0；根据待测样品上任意两个检测点之间的低频电阻值R0、两个检测点间距L和待测样品半径r计算待测样品的电阻率ρ，检测待测样品上所述两个检测点之间的高频电阻值R；根据待测样品上所述两个检测点之间的低频电阻值R0、高频电阻值R、半径r和电阻率ρ计算待测样品的相对磁导率μr。本发明有效避免了常规方法需要将样品加工成环状、并需要绕制线圈的麻烦，也避免了磁路漏磁等缺陷，简单巧妙，检测结果准确，实现了快捷无损精确测量，具有较好的应用前景。
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