发明公开
- 专利标题: 测量装置
- 专利标题(英): Measuring device
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申请号: CN201580029220.X申请日: 2015-05-12
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公开(公告)号: CN106461371A公开(公告)日: 2017-02-22
- 发明人: 中野良平
- 申请人: 株式会社普利司通
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社普利司通
- 当前专利权人: 株式会社普利司通
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 丁文蕴; 严星铁
- 优先权: 2014-118019 2014.06.06 JP
- 国际申请: PCT/JP2015/002399 2015.05.12
- 国际公布: WO2015/186299 JA 2015.12.10
- 进入国家日期: 2016-12-01
- 主分类号: G01B11/00
- IPC分类号: G01B11/00
摘要:
一种测量装置,其设置有:测量标记(2),其设置在转鼓(3)的外周表面上,转鼓具有设置在外周表面上的带状部件(10);至少一个测量传感器(4),其获取至少一些测量标记(2)的位置信息;以及计算装置,其基于测量标记(2)上的测量信息来计算测量标记(2)的位置,所述测量信息已经通过测量传感器(4)获取,并且其计算提前测得的测量标记(2)的实际位置与测量标记(2)的计算位置之间的偏差。
公开/授权文献
- CN106461371B 测量装置 公开/授权日:2019-08-13