本发明提供了一种熔接长周期光纤光栅的双程MZ结构测量应变的方法，所述应变测量方法包括如下步骤：a、搭接双程MZ结构，所述双程MZ结构包括光源、第一光耦合器、第二光耦合器以及第一光纤、第二光纤、第三光纤和第四光纤；b、将长周期光纤光栅熔接到所述双程MZ结构中，其中将刻有长周期光纤光栅的光纤两端分别与第三光纤和第四光纤熔接，所述长周期光纤光栅构成双程MZ结构的反射端；c、将b熔接长周期光纤光栅的双程MZ结构整体结构置于温箱中，改变温控箱的应变，利用光谱仪监测波长移动；d、绘制波长与应变变化的关系曲线，利用所述关系曲线对待测应变材料的应变进行测量。本发明能够有效降低透射峰的宽度，提高测量的精确度。