Invention Publication
- Patent Title: 雷达系统中的多芯片收发器测试
- Patent Title (English): Multi-Chip Transceiver Testing in a Radar System
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Application No.: CN201610828516.4Application Date: 2016-09-18
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Publication No.: CN106556821APublication Date: 2017-04-05
- Inventor: D·C·布林 , B·P·金斯伯格 , K·丹杜
- Applicant: 德克萨斯仪器股份有限公司
- Applicant Address: 美国德克萨斯州
- Assignee: 德克萨斯仪器股份有限公司
- Current Assignee: 德克萨斯仪器股份有限公司
- Current Assignee Address: 美国德克萨斯州
- Agency: 北京纪凯知识产权代理有限公司
- Agent 赵志刚; 孙娜燕
- Priority: 14/870,252 20150930 US
- Main IPC: G01S7/40
- IPC: G01S7/40

Abstract:
本申请提供雷达系统中的多芯片收发器测试。提供的一种雷达系统包括第一雷达收发器集成电路(IC)和第二雷达收发器IC,所述第一雷达收发器集成电路包括可操作以生成连续波信号的发送信号发生电路系统和耦合到发送信号发生电路系统以接收连续波信号并基于连续波信号发送测试信号的第一发送信道,所述第二雷达收发器IC包括经由回送路径耦合到第一雷达收发器IC的第一发送信道的输出的第一接收信道以接收来自第一发送信道的测试信号,所述第二雷达收发器IC可操作以测量测试信号中的相位响应。
Public/Granted literature
- CN106556821B 雷达系统中的多芯片收发器测试 Public/Granted day:2022-01-11
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