离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率和电导率的测试方法
摘要:
本发明公开了一种离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率的测试方法,其包括以下步骤:1)提供包括辐照损伤层和离子辐照未损伤的基体层的离子辐照试样,测量离子辐照试样的总的电阻R0和离子辐照未损伤的基体层的厚度H2;2)对离子辐照试样减薄,测量减薄后离子辐照试样的电阻R和减薄层的厚度H;以及3)根据以下数学计算公式计算离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率。此外,本发明还公开了一种离子辐照试样辐照损伤区域的电导率的测试方法。本发明离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率和电导率的测试方法通过试验和计算推导相结合的方法获得离子辐照试样表层离子辐照损伤区域的电阻率和电导率,计算结果精确,测试方法简单易行,成本低廉。
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